GWB-200JA型引伸計標定儀

GWB-200JA型引伸計標定儀產(chǎn)品簡介

1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規(guī)格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內筒、讀數(shù)外筒及高精密螺紋付組成。其量程25mm；小分度（游標分度）0.0002mm；旋轉外筒分度0.002mm。

位移變化讀數(shù)為：

 L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）

其中：a－內筒毫米刻線讀數(shù)

      b－外筒刻線讀數(shù)

      c－游標刻線讀數(shù)

      a0，b0，c0  為相應位移變化前讀數(shù)

GWB-200JA型引伸計標定儀產(chǎn)品參數(shù)

1、測量引伸計標距范圍            Lmax 500mm

2、測量支座上支臂安裝孔徑          φ10；φ28

3、微分測頭讀數(shù)內筒軸向刻度         0.5mm/格

4、微分測頭讀數(shù)內筒游標刻度      0.0002mm/格

5、微分測頭讀數(shù)外筒圓周刻度       0.002mm/格

6、高精密微分測頭示值誤差指標

   量程0.5mm以內≤0.5μm     誤差

   量程0.5mm以上≤0.10%     逐點相對誤差

   參照標準：

   JJF1096-2002     引伸計標定器校準規(guī)范

   ISO9513:1999     金屬材料單軸試驗用引伸計標定

   JJG762-2007      引伸計檢定規(guī)程

   可進行0.5級引伸計的標定

GWB-200JA型引伸計標定儀產(chǎn)品使用

 請依據(jù)JJG762－92引伸計檢定規(guī)程及JJF1096-2002引伸計標定器校準規(guī)范的要求，進行引伸計的檢定：

1、根據(jù)被檢引伸計的規(guī)格型號及測試的試樣規(guī)格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。

2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸；調整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。

3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：

（1）檢定范圍應根據(jù)引伸計需要測試材料的技術參數(shù)決定。例如，使用50mm標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數(shù)據(jù)，那么請您選擇1mm的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25mm的檢定量程。

（2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1mm的檢定量程內，檢定10點，即每0.1mm檢一點。

（3）檢定引伸計時一定用整數(shù)刻度倍讀法，不要用游標估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)，因為每的十點讀數(shù)已造成了讀數(shù)的疲勞，估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)會加劇測量誤差的產(chǎn)生。而整數(shù)單刻線對整讀法清晰簡單準確，出現(xiàn)誤差的機率小，即便出現(xiàn)也會及時發(fā)現(xiàn)，因為整數(shù)刻度倍讀數(shù)的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數(shù)增加，這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現(xiàn)。

4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法保證該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱插入主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。

GWB-200JA型引伸計標定儀產(chǎn)品售后服務

上海舜誼試驗設備制造有限公司承諾：

1、 本公司秉承質優(yōu)價廉的原則。只銷售合格產(chǎn)品，只銷售高性價比的產(chǎn)品。

2、 本公司所售商品整機均質保壹年，質保期內設備出現(xiàn)故障免收上門服務費（質保期內特殊需求如改裝和過保后的維修除外），產(chǎn)品非正常狀態(tài)下使用導致的損壞，例如人為損壞，不在質保范圍內；本公司仍將提供維修、更換配件等服務，但酌情收取所需材料費。

3、 我公司對所有售出產(chǎn)品，均編制資料檔案，并實施終身跟蹤服務。

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