- 企業類型:貿易商
- 新舊程度:全新
- 原產地:日本
日立 掃描電子顯微鏡SEM主要用于鋰電池材料的微觀形貌觀測,比較常用的型號是:掃描電子顯微鏡 SU1510 和掃描電子顯微鏡 S-3700N。



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日立 掃描電子顯微鏡SEM主要用于鋰電池材料的微觀形貌觀測,比較常用的型號是:掃描電子顯微鏡 SU1510 和掃描電子顯微鏡 S-3700N。

