詢價
- 移動平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
- 分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層
X射線熒光測厚儀是對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。鍍層厚度測試方法主要分為：電渦流法、磁感應法、金相法、庫侖法以及X射線熒光法。今天，我們主要為您講解后三種方法的區別以及關系。
1、測量原理比較| 測試方法 | 測試原理 |
| 金相法 | 利用金相顯微鏡放大橫截面的原理，對鍍層厚度放大，進行觀測及測量。 |
| 庫侖法 | 利用適當的電解液陽極溶解限定面積的覆蓋層，根據所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。 |
| X射線光譜法 | 利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產生的離散波長和能量的二次輻射強度與覆蓋層單位面積質量之間存在一定的關系。根據校正標準塊提供的單位面積質量的覆蓋層校正這一關系，給出覆蓋層線性厚度。 |
| 測試方法 | 參考標準 | 樣品要求 | 儀器 |
| 金相法 | ASTM B487；GB/T 6462 | 鍍層厚度不小于1um | 切割機、真空浸漬儀、研磨機、金相顯微鏡 |
| 庫侖法 | ASTM B764；GB/T4955 | 平面不小于5mm2 | 電解測厚儀 |
| X射線光譜法 | ASTM B568； GB/T16921 | 測試面積大于0.05×0.25mm | X-ray鍍層測厚儀 |
| 金相法 | 庫侖法 | X射線光譜法 | |
| 測試范圍 | ＞1um | 0~35um | 重金屬0~10um 、其它0~35um |
| 測試 | 高 | 稍差 | 高 |
| 制樣 | 制樣復雜 | 配置不同電解液 | 簡單 |
| 工件損傷 | 有損 | 有損 | 無損 |
| 操作方法 | 操作復雜 | 復雜 | 簡單 |
| 測試效率 | 非常低 | 低 | 高 |
| 層數 | 不限 | 單層和Cr/Ni/Cu復合鍍層 | 多5層 |
| 鍍層預知 | 不需要 | 需要 | 需要 |
| 合金鍍層厚度 | 可測 | 不可測 | 可測 |
| 合金成分 | EDS聯用 | 不可測 | 可測 |
| 溶液成分測試 | 不可測 | 不可測 | 可測 |
| 人為因素 | 影響大 | 影響大 | 影響小 |
| 價格 | 較高 | 低 | 高 |
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
| 樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
| 吊扣 | 100 | 19.321 |
| 吊扣2# | 100 | 19.665 |
| 吊扣3# | 100 | 18.846 |
| 吊扣4# | 100 | 19.302 |
| 吊扣5# | 100 | 18.971 |
| 吊扣6# | 100 | 19.031 |
| 吊扣7# | 100 | 19.146 |
| 平均值 | 100 | 19.18314 |
| 標準偏差 | 0 | 0.273409 |
| 相對標準偏差 | 0 | 1.425257 |
實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。
X射線熒光測厚儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產鍍層測厚儀，氣相色譜質譜聯用儀,鍍層測厚儀，等離子發射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
天瑞儀器鍍層測厚儀展廳
