詢價
- 測量元素范圍：鈉（Na）到鈾（U）
- 元素含量分析范圍：ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
- 同時分析元素：一次性可測幾十種元素
- 測量時間：60秒-200秒
- 能量分辨率為：（140±5）eV
- 管壓：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展，傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構
儀器配置
鈹窗電制冷SDD探測器
X熒光光譜儀自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
X熒光光譜儀自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
先進的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
技術參數
型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
X熒光光譜儀樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
軟件優勢
采用公司新的能譜EDXRF軟件，先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本23088萬。旗下擁有北京邦鑫偉業技術開發有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家全資子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。
