鋼鐵的元素含量的測試是鋼鐵行業研發、生產控制、質量檢驗的傳統測試項目。經典的化學分析方法操作復雜、分析元素單一、分析過程時間長、消耗對環境潛在危害的化學試劑。鋼鐵冶煉爐前同步分析的快速分析需求，直接促使直讀光譜儀的發明。直讀光譜儀的發明和改進的幾十年來，完美的實現了現代鋼鐵工業對鋼鐵的元素含量分析速度快、元素種類豐富、成本低、環境友好等多方面需求，其他元素分析方法從未如此同時恰好滿足以上需求。目前，直讀光譜儀已是追求產品技術和質量水平的鋼鐵冶煉、加工、整機企業的必選設備。

OES1000簡介

     直讀光譜儀OES1000廣泛應用于鋼鐵及有色金屬材料的元素含量分析, 快速、、穩定、可靠測試幾十種元素, 滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面要求, 是生產優質金屬產品的必備工具。

     樣品預處理方法簡單，測試過程少于40秒，不需、復雜的操作，不使用環境不友好的化學試劑，可同時測試鋼鐵及有色金屬幾乎所有關注元素，是鋼鐵及有色金屬行業的分析測試工作的高效率和低成本解決方案。

     直讀光譜儀的快速分析加速了關聯流程，為鋼鐵及有色金屬行業創造了明顯的經濟效益和環保效益。

技術性能及指標

1.分光室設計
  帕邢-龍格裝置，1米焦距
  根據測試需求分為真空型（真空度≤3Pa）、空氣型兩種
  恒溫控制（32℃±0.1℃）
  特殊材質鑄造，保證光室形變小
2.多安裝通道 32
3.凹面光柵
  刻線密度2160gr/mm
  曲率半徑998.8mm
  逆線色散率0.47nm/mm
  波長范圍170-463mm
4.狹縫寬度
  入射狹縫20μm，
  出射狹縫為整體狹縫，寬度為35-75μm
5.光電倍增管
  10級側窗型，熔融石英或玻璃外殼；
6.分辨率
   依光柵、出射狹縫和級次而不同
7.分析時間
  依樣品種類而不同，一般少于40秒
8.激發光源
  高壓火花放電，放電頻率100-900Hz，電極間距3-4mm
9.測光方式
  采用光電倍增管檢測器測光，光電倍增管負高壓連續可調，傳統的分段積分法
10.控制系統
  利用FPGA技術，控制整個儀器的工作狀態

工作條件

工作溫度：15-30℃ 
相對濕度：≤70%
電 源：220±5V，電流10A，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
尺 寸：1680(長)×1020(寬)×1150(高)mm 寬度不含臺板
重 量：約500kg

技術優勢

的測試方案
長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、國家標準樣品校準，經儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

國際供應商提供部件
光譜色散元件---全息凹面光柵由法國Jobin Yvon制造，保證優異的光譜分辨能力
光譜檢測器---光電倍增管由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
可測量P、S、B等真空紫外譜線，器件壽命一般高于十年
真空光室系統部件---真空泵由美國Varian制造，保證光室清潔、無油狀態

的光路焦距設計
光柵曲率半徑998.8mm為國內外的光路配置，只有個別高技術追求的儀器廠商配置。優異的光譜分辨能力使元素譜線的分析測試游刃有余。

樣品臺預防電磁輻射和噪聲設計
激發電源設計緊湊，樣品臺安裝在密閉的鋼鐵護罩門中，并配以門開閉狀態確認開關，有效降低測試樣品時高強度的電火花產生的電磁輻射和噪聲

整體出射狹縫設計
高刻制整體狹縫帶保證各預制元素譜線狹縫的同時安裝，此設計實現了原廠生產快速調試和后期客戶處快速通道補充安裝。

測試示例

樣品取樣 
鋼鐵樣品取樣可分為熔體取樣和成品取樣。熔體取樣需將鐵水注入模具中凝固成塊狀樣品。成品取樣需考慮尺寸、形狀來考慮是否需切割樣品。 
參考標準《GB/T 20066-2006 鋼和鐵 化學成分測定用試樣的取樣和制樣方法》。

樣品預處理 
使用光譜磨樣機打磨樣品的測試面，使樣品表面平整、光潔、劃痕一致。

校準曲線——中低合金鋼

測試結果

中低合金鋼GBW1398

不銹鋼 YSB S 11378a-2008

部分產品 

   江蘇天瑞儀器股份有限公司產品包括X光電鍍層測厚儀，XRF玩具涂料檢測儀，X熒光光譜儀X-RAY,EDX1800B儀器，ROHS環保分析儀， ROHS儀器，X射線熒光測厚儀，X射線鍍層測厚儀，X-RAY膜厚測試儀，鍍金鍍銀測厚儀，手持式光譜儀，手持式金屬分析儀，手持不銹鋼測試儀，ROHS分析儀，手持式合金元素分析儀，手持式不銹鋼材質檢測儀，X射線熒光光譜儀，ROHS測試儀，便攜式X射線熒光光譜儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測儀，國產氣相色譜質譜儀，食品、水質、土壤重金屬分析儀等，x-ray光譜儀，X射線熒光鍍層測厚儀。