熱電參數測試系統產品特點
擁有知識產權,獲得多項技術。
采用動態法測量Seebeck系數,避免了傳統靜態測量法在溫差測量方面的系統誤差,測量更準確。
熱電偶不直接和樣品接觸,避免出現微型熱電偶斷裂失效的問題 。
爐殼過溫報警,自動斷電保護。
友好的軟件界面,操作簡單,實時顯示采集數據、測試狀態和結果,采用智能化數據存儲及處理算法。
熱電參數測試系統技術參數
型號 | Namicro-3LT |
溫度范圍 | RT~800°C |
溫控方式 | PID程序控制 |
升溫速率 | 50°C/min |
真空度 | ≤50Pa |
測試氣氛 | 真空 |
測量范圍 | 澤貝克系數:S ≥ 8μV/K; 電阻率:0.1μΩ?m ~ 106KμΩ?m |
分辨率 | 澤貝克系數:0.05μV/K; 電阻率:0.05μΩ?m |
相對誤差 | 澤貝克系數 ≤±7%,電阻率 ≤±5% |
測量模式 | 自動 |
樣品尺寸 | 塊體,長x寬:(2~5) x (2~5),單位mm;高度:10 ~ 18mm |
主機尺寸 | 1000 x 400 x 500,單位mm |
重量 | 75kg |
熱電參數測試系統測試實例
1、康銅樣品三次測試數據與美國AIP標準數值對比

2、Namicro-3L、ZEM-3對N型Bi2Te3測試結果對比

3、Namicro-3L、ZEM-3對P型Bi2Te3測試結果對比

4、Namicro-3L、ZEM-3對MgSi測試結果對比(太原理工提供樣品)










