詢價
目前對于不同的電子材料，元件，板材等，業界主要還是各家公司自己的具體要求來執行。現在有兩種講法對于無鹵素，1.BSEN14582測試方法，這種根本測不出（<50ppm）的CI,Br；2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒有對總含量定義。有些公司定義的測試方法及測試樣品的選取都有不同，樣品數量太少的話，導致測試結果會有很大偏差。也有分產品中含有的鹵素是刻意添加（配方中的成分）及非刻意添加（雜質）？這些具體的要求，目前法規還沒有明確定義，都是由各個廠家自己要求確定。
各標準組織的測試方法如下，
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
傳統只是對鹵化物有定義要求，采用鉻酸銀試紙，氟點測試等方法檢測只是對鹵化物的離子進行定性的測試方法，如果要定量的話還得用離子層析法（Ion chromatography）。
無鹵素與無鹵化物不是一個概念，鹵化物是以游離的鹵素離子存在，而鹵素則可以共價的方式形成含有鹵素的化合物，并且用離子層析法（Ion chromatography）是測不到游離的鹵素離子存在的。所以，目前的鹵素測試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測樣品共價存在的鹵素破壞原先的結構，使其變為游離的離子形態的鹵素，可以被離子層析法（Ion chromatography） 檢測到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測到。
以上為鹵素標準推薦采用的測試方法；目前rohs測試主要是參考IEC62321文件來進行的，IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測試方法，及XRF在rohs中的作用，并且注明了XRF測試結果如何判定是否符合標準，目前電子電器行業對于Cl，Br的測試是參考IEC62321文件來進行的，判斷其結果是否符合標準也是按照此文件內的30%的偏差來判斷的。
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
鋼鐵行業測試專用配件
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
性能參數
產品型號：EDX 4500
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
