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X射線鍍層測厚儀廠家直銷，價格優惠！
產品介紹
X熒光鍍層測厚儀是一款無損、快速檢測金屬鍍層（鍍金，鍍鎳，鍍鋅，鍍錫，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等元素）厚度的儀器，thick8000型X熒光測厚儀是天瑞儀器在thick800a的基礎上新設計的一款金屬鍍層測厚儀，三維移動平臺和高清攝像系統，使整個測試更加精準，多可以測試5層，滿足客戶的不同要求。
技術指標
產品名稱型號：thick8000型X熒光鍍層測厚儀
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
X/Y/Z平臺重復定位 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用先進的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
性能優勢
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
精密的三維移動平臺
卓越的樣品觀測系統
先進的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
測試實例
在保證計數率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩定性、降低檢測限。
Thick8000測厚儀檢測譜圖
某國外X熒光鍍層測厚儀檢測譜圖
11次測量結果（Au-Cu)的穩定性數據對比如下：
