
測量程序自動化,高重復,智能分析SPC系統
1、大范圍測量,滿足大板測量要求
2、高解釋度CCD,精密的激光頭,測量高而穩定
3、彩色影像2D尺寸檢查功能
4、模擬3D測量功能
5、高重復測量,測量程序自動化
6、設計剛性架構,消除環境影響
7、智能化SPC分析系統
8、過爐后板異或彎曲時Z軸自動對焦校正,數據自動補償
產品特性
1、3D掃描測量,3D模擬觀察
2、PCB多區域編程掃描
3、自動化、重復性測量
4、XY大掃描范圍
5、Z軸伺服,軟件校正,板彎自動補償
6、板彎夾具
7、一鍵輕觸開蓋(可以訂做透明機蓋)
8、五檔視野調節
9、強大SPC功能
10、產品及生產線管理
11、自動測量模式時,掃描完畢報警并自動關閉紅色鐳射線,以鐳射燈的使用壽命。
12、根據PCB的不同亮度以及周邊環境亮度的不同,可以調整鐳射線和LED無影燈的光照亮度,從暗到強。
功能介紹:
Walscan III 3D錫膏測厚儀是一代3D錫膏測量儀器,搭配Windows XP操控系統,高的XYZ三軸驅動,的硬件配置,與其簡捷的外觀設計相得益彰,它將給您帶來測量工作的簡易,快捷和。適合全板檢測,可檢測錫膏厚度,體積,面積,位置偏移,形狀不良,少錫,多錫,連錫,漏印等不良。
基本原理:
精密激光線,位移測量;了解錫膏錫膏形狀規則;采用3D掃描獲取整體數據。

應用范圍:
錫膏厚度&外形測量;
芯片邦定,件共平面度,
BGA/CSP尺寸和形狀測量;
鋼網&通孔之尺寸及形狀測量;
PCB焊盤,圖案,絲印之厚度及形狀測量;
IC封裝,空PCB變形測量;
其他3D量測,檢查、分析解決方案。

規格參數:
工作平臺 | 可測量PCB:390×300mm | 測量模式 | 單點高度測量 |
選框內平均高度測量 | |||
XY掃描范圍:390×300mm | 3D視野自動高度測量 | ||
可編程,多區域3D自動高度測量 | |||
其他尺寸工作平臺可訂制 | 可編程,平面幾何測量 | ||
測量光源 | 精密紅色激光線,高度可調 | 3D模式 | 3D模擬圖 |
照明光源 | 高亮白光LED燈圈,高度可調 | SPC模式 | X-Bar &R cart |
XY掃描間 | 10um-50um,可設定 | 直方圖分析 Ca/Cp/Cpk/Pp/Ppk | |
掃描速度 | 60FPS | 數據分析,全SPC功能 | |
掃描范圍 | 任意設定390×300mm | 資料導出,預覽,打印等 | |
XY移動速度 | 可調35mm/s | 產品,產線,數據分析,管理 | |
高度分辨率 | 1um | 其他功能 | Z軸板彎自動補償 |
重復測量 | ±2um | 軟件板彎補償 | |
鏡頭放大倍數 | 20X-110X,5檔可調 | 測量產品,生產線管理 | |
測量數據密度 | 130萬像素/1680*1024 | 參數校正,保護 | |
Z軸板彎補償 | 10mm | 選框記憶 | |
工作電源 | 110V,60Hz/220V,50Hz AC | PC及操作系統 | 雙核CPU+顯卡 |
Windows XP | |||
設備尺寸 | 870×650×470mm | 設備重量 | 75KG |
自動功能 | 可編程,自動重復測量 | 指示燈與按鍵 | 紅黃綠指示燈 |
1鍵到設定位置 | 緊急停止開頭 | ||
自動測量 | 報警蜂鳴器 |
光學參數:
電動伺服平臺 | CCD攝像機 | ||
平臺尺寸 | 400mm×300mm | 頻率 | 60 場/秒 |
行程 | 350mm(水平)×270mm(垂直) | 制式 | PAL |
傳感器 | 1/3" | ||
3D掃描 | 分辨率 | 1024pixel×1280pixel | |
掃描范圍 | 單視場,可編程 | 視場 | 22.8mm×17.1mm |
掃描間距 | 0.010mm~0.050mm可調 | 視場 | 3.2mm×2.4mm |
測量 | ±0.002mm | 其他 | |
重復 | 0.004mm | 測量光源 | 精密紅色激光線 |
照明光源 | 環型白色LED照明 | ||
其他測量功能 | 2維測量,數據管理,其他元器件,線路,油墨高度等掃描測量 3D模擬顯示,可編程多處自動掃描測量, |

3D錫膏測厚儀廠家/錫膏厚度檢測儀,錫膏檢測設備,













