- 企業類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產地:日本
- 頻率范圍:1 MHz~3 GHz
- 設置分辨率:100 kHz
- 測量電平:-40.0 dBm ~ +1.0 dBm
- 測量范圍:100 mΩ~5 kΩ
- 分析模式:頻率/掃頻測量
- 基本:Z:±0.65%rdg.
- 測量時間:0.5 ms
- 連續測量模式:LCR 30通道,分析 16通道

HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀技術參數:
1、測量頻率范圍:1 MHz~3 GHz
2、設置分辨率:100 kHz
3、保證時間:1年
4、調整后保證時間:1年
5、測量電平:-40.0 dBm ~ +1.0 dBm (4 mV ~502 mV)
6、測量時間:0.5 ms(模擬測量時間)
7、測量范圍 :100 mΩ~5 kΩ
8、測量項目 :Z, Y, θ, Rs, Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D, Q
9、基本:Z:±0.65%rdg. θ:±0.38°(代表值)
10、接觸檢查:DCR測量,Hi-Z篩選波形判斷(振動檢出)
11、分析模式:頻率/掃頻測量(801點)
12、連續測量模式:LCR 30通道,分析 16通道
13、接口:處理程序,USB,LAN、GP-IB(選件),RS-232C(選件)、U盤
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀特點:
一、實現高達3GHz的高頻測量,覆蓋1MHz~3GHz的寬測量頻率。這種偏差小,穩定
性高的測量,是最適用于研發的阻抗分析儀;
二、裝卸簡單提供準確的SMD測量:使用可對應6種尺寸SMD的專用選件IM9201(另售),可簡單準確的測量被測物;
三、接觸檢查(DCR測量和Hi-Z篩選):通過DCR測量電感線圈,然后用Hi-Z篩選電容器從而進行各種接觸檢查。無論哪種情況都與檢查出的振動結合,實現可以信賴的測量。
四、節省空間的緊湊型機身:主機尺寸為215W×200H×348D mm為通常一半。作為該級別測試儀,屬于超級輕便的機型。
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀配置:
主機構成:IM7587主機,測試前端,連接線
訂購型號(連接線長度):

選件
1、SMD測試治具IM9201
2、測試治具臺IM9200
3、適配器(3.5 mm-7 mm)IM9906
4、校正板IM9905(預定近期發售)








詢價












