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- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：臺灣
VLSI 測試系統 Chroma 3380D相容性治具解決方案
3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP
3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card
3380D/3380P/3380VLSI 測試系統為因應高同測功能(High Parallel Test)，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外，更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數字通道管可并行測256個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。3380D VLSI測試系統非常適合應用于IoT相關的晶片測試，尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測試系統3380D/3380P/3380 系列開發至今，已在大中華地區被廣泛的采用。
VLSI 測試系統 Chroma 3380D主要特色：
50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數據速率
256數字通道管腳
并行測試可達 256 sites 同測數
32/64/128 M Pattern 記憶體
多樣彈性 VI 電源
彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
SCAN向量存儲深度(2G bits/chain) *可選配
ALPG 測試選配供記憶體IC用
STDF 工具支援
測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化 Window 7 操作系統
CRAFT C/C++ 程式語言
軟件介面與 3380P/3360P 相同
Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
Cable mount 治具可相容于3360D與3360P
