詢價
Chroma 19055/19055-C耐壓測試分析儀主要特色：
500VA 輸出
Floating 輸出設(shè)計，符合EN50191要求
Corona 電暈放電偵測(19055-C)
Flashover 電氣閃絡(luò)偵測
BDV崩潰電壓分析
HFCC高頻接觸偵測
OSC開短路偵測
GFI人體保護電路
標準RS232&HANDLER介面
可選購GPIB介面
不良時面板鎖定功能
可程式電壓輸出及測試限制值
支援 A190301 高壓掃描治具
Chroma 19055/19055-C耐壓測試分析儀量測技術(shù)
耐壓測試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測技術(shù)(CORONA)
何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標準敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur"，意指在耐壓測試中，不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件最重視的議題。由于放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性，所以放電偵測不僅是安全議題，更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來分類，放電可分為三種 : 電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge) 。
電暈放電(Corona Discharge): 當二電極間承受較高電壓時，電場強度相對較大，當此作用大于氣體之電離位能(Ionization Potential) ，于材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象，此時會有可見光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長期的電暈放電與溫升可能會造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change)，進而導致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ，使得絕緣耐受程度下降，最終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由于電暈放電會產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電，是可以用高頻電量量測的方式偵測。
