詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇蘇州
- 檢出限：金屬鍍層分析最薄可達0.005μm
- 鍍層測試精度：<5%
- 穩定性：多次測量重復性可達1%
- 同時檢測元素：可同時分析24個元素，五層鍍層
- X射線裝置：50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源
電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司專業研發并生產、銷售電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀。
電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀是專業測試金屬電鍍膜厚的儀器，主要針對鍍金，鍍銀，鍍鋅，鍍錫，鍍銅，鍍鎳，鍍鈀，鍍銠等鍍層厚度，天瑞儀器thick800a采用上照式，滿足不同規格樣品的測試，同時移動樣品平臺可以滿足不同點樣品測試，實現了智能化操作，作為電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀生產廠家，產品質量、售后服務、價格占有一定優勢。
電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀Thick800A是天瑞儀器股份有限公司的集多年X熒光測厚儀經驗，專門研發的一款上照式膜厚測試儀。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析。
性能優勢
高端配置——采用高分辨率SDD探測器;分辨率高達140eV
上照式設計——實現微小不規則表面樣品如弧形，拱形，凹槽，螺紋等異形的快、準、穩高效檢測高自動化的X軸Y軸Z軸的聯動裝置實現對樣品的精準對焦快速檢測
采用高度自動定位激光，可快速精準定位測試高度，以滿足不同尺寸的鍍層測試
多種準直孔可供選擇——準直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm定位精準——樣品可快速精準定位
操作簡易——全自動智能集成設計，讓檢測輕松完成
儀器配置高
電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀Thick 800A采用的是業內zui高端的SDD半導體電制冷探
測器，分辨率可達140eV,可以很好的區分相鄰元素譜峰。
以Au/Ni/Cu鍍層為例，正比計數盒儀器譜圖如圖一，從譜圖可以看出銅鎳兩元素的譜峰重疊嚴重，金的峰形與樣品本底重疊；不利于元素準確分析。
圖二是半導體SDD儀器測試Au/Ni/Cu的光譜圖，從譜圖可以看出銅鎳金這三個元素的譜峰得到很明顯的區分，有利于元素精準分析。
聚焦光路設計
電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀Thick 800A采用獨特的光路交換裝置，讓X射線與攝像光處于同一垂直線，達到激光點與測試點一體，且X光高度聚焦；配合FP軟件達到對焦變焦功能， 實現微小不規則樣品的精準測試； 高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，有效的減少弧度傾斜放樣帶來的誤差。
特制濾波片實現低背景測量
通過特制濾波片可以有效降低X熒光的吸收與增強作用，減小背景散射，提高對超薄金屬元素的檢出限（最di可以達到0.005um），實現超薄金屬鍍層厚度分析。
高精度定位技術
高精度移動平臺可精que定位測試點，平臺電機重復定位精度小于0.005mm；移動平臺可通過測試軟件可視化操作：（ 鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。）
FP算法
電鍍層厚度膜厚儀，金屬鍍層厚度測量儀Thick 800A分析核心技術 FP算法
元素厚度精準檢測
微區分析、薄膜分析、高級次譜線分析
更加和人性化的測試軟件
①主界面增加曲線快速切換功能；
②鼠標移動快捷鍵更改不需要ctrl，鼠標點哪，樣品平臺就會移動到哪里，更加方便客戶測試；
③鍍層厚度自動判定，客戶可以根據需要自定義判定標準；
④工作曲線界面加入備注名稱可編輯，并可以顯示在主界面曲線界面，對英文元素做備注說明，方便客戶區分，界面對客戶更加友好
⑤自動生成測試報告，測試歷史數據察看、檢索等
⑥行業解決方案，如精密部件釹鐵硼鍍鎳鍍銅再鍍鎳，電泳漆測厚度，鋁塑膜測試鍍鋁的厚度等。
技術參數
