詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：日本
- 峰值電壓：3000V（高壓模式）
- 峰值電流：1000A
- 脈寬：50μs~400μs
- 脈寬分辨率：10μs
- 測(cè)試點(diǎn)：可指定測(cè)試點(diǎn)
- 垂直軸量程：100mA～50A/div
日本巖崎CS3200半導(dǎo)體曲線圖示
集漏電流與大電流為一臺(tái) 可自動(dòng)測(cè)試
適用于無(wú)論大小容量的IGBT、MOSFET、三極管、二極管等各種半導(dǎo)體的特性測(cè)試
簡(jiǎn)單易用，追求人性化的先進(jìn)功能
日本巖崎CS3200半導(dǎo)體曲線圖示儀采用電路圖模式顯示內(nèi)部的配線狀「CONFIGURATION」更好地避免模塊測(cè)試時(shí)的誤操作。具有能確認(rèn)實(shí)際印加電流/電壓波形的Wave模式。
●可以像示波器一樣通過觀測(cè)模塊上實(shí)際印加的波形（電流、電壓）來(lái)確定脈寬和實(shí)際測(cè)試點(diǎn)
●可通關(guān)確認(rèn)實(shí)際波形，適時(shí)調(diào)整脈寬和測(cè)試點(diǎn)
●避免了示波器的探棒影響，可確認(rèn)到實(shí)時(shí)的異常信號(hào)
●可非常容易地確認(rèn)到模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況
與電腦完美結(jié)合的全自動(dòng)化
日本巖崎CS3200半導(dǎo)體曲線圖示儀匹配半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件 CS-810 （選用件）通過對(duì)主機(jī)的遠(yuǎn)程控制，可實(shí)現(xiàn)各種自動(dòng)測(cè)試的軟件。傳統(tǒng)上通過曲線圖示儀難以進(jìn)行的疲勞試驗(yàn)、加熱實(shí)驗(yàn)或同時(shí)控制恒溫箱進(jìn)行多溫度點(diǎn)實(shí)驗(yàn)都可使用本軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)。透過USB存儲(chǔ)器，可用來(lái)保存圖像、數(shù)據(jù)及設(shè)置條件。圖像可以保存為TIFF,BMP,PNG格式，背景可選擇黒或白、圖像可選擇彩色或黑白。波形數(shù)據(jù)可同時(shí)保存為文本文件和二進(jìn)制文件。
SWEEP
測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整?？筛鶕?jù)需要的掃描速度及分辨率來(lái)設(shè)置。根據(jù)不同用途可改變掃描方向。同時(shí)具有客戶指定功能，可以指定僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描。特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試。
限制掃描功能 （選用件CS-800）
在一般的掃描測(cè)試中加入電流、電壓的限制功能。 限制在被測(cè)模塊上印加的電流值、電壓值，以起到保護(hù)作用。也可在達(dá)到目標(biāo)值時(shí)停止掃描。Vth?hFE自動(dòng)檢測(cè)功能 （選用件CS-800）
可在條件設(shè)定后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，避免了之前的繁雜操作。
CS3200半導(dǎo)體曲線圖示儀
適用于IGBT、MOSFET、三極管、二極管等各種半導(dǎo)體特性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)
● 峰值電壓3,000V（高壓模式）
● 峰值電流1,000A（CS-3300大電流模式)
● 全型號(hào)標(biāo)配LEAKAGE模式（游標(biāo)分辨率1pA）
● UL/CE認(rèn)證
●CS-3300 1,000A （HC脈沖模式）
●CS-3200 400A （HC脈沖模式）
●CS-3100 （無(wú)HC模式）
半導(dǎo)體曲線圖示儀測(cè)試軟件 CS-810介紹
可將產(chǎn)品開發(fā)時(shí)的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時(shí)測(cè)得的多個(gè)波形進(jìn)行同屏比較。或者通過波形比較來(lái)判斷是否合格。
●波形比較與判斷
通過與參考波形對(duì)比來(lái)判定是否合格。
●波形顯示
將以前獲得的CSV文件或直接從圖示儀上讀取的波形與現(xiàn)在從圖示儀上讀取的波形在同一圖系中顯示，顯示10個(gè)波形，進(jìn)行對(duì)比。
●坐標(biāo)重定義功能
將顯示的波形電壓軸以任意間隔保存到CSV文件。將測(cè)試結(jié)果以表格形式顯示時(shí)，可按同一電壓軸來(lái)顯示。
●游標(biāo)功能
可將顯示的波形以數(shù)值形式表現(xiàn)出來(lái)。
同時(shí)，實(shí)際測(cè)試點(diǎn)以外的點(diǎn)也可用推算值來(lái)顯示。
