非標探針臺
I (1)微型探針臺
整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg；：
雙探針座平臺鍍鏢設計，提高了針座平臺和針座之間的吸附力；
ChJKZC-UCk XY微分頭設計，行程25mm*25mm,精度2um；
ChJKZC-UCk大小：2英寸，中心吸附孔和多圈吸附環固定樣品,均獨立控制；
卡盤電學獨立懸空，帶4mm香蕉頭插口,可以作為背電極使用；
臺體底板帶高性能防震海綿，可一定程度減小外界震動對測試的干擾;
整機人體工程學設計，操作簡單，使用便捷。
| (2)倒裝手動測試夾具
可給樣品加載DC或者RF信號；
樣品可在0~180度任意角度內進行旋轉并固定；
具備微調功能，精度0.1度；
玻璃樣品載臺，高透光性；
可無磁化設計，在光學,電磁等環境中運用較為廣。
| (3)光電流測試顯微鏡
可在原有光路基礎上可以導入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下電學性能；
顯微鏡設計為雙光路或3光路，其中一路為導入光通路，另一到兩路為成像光路導入光為平行的激光或其它線性光源 ,波長范圍200nm~20000nm,中間可加入多個波片過濾,起偏及偏振角度無級360度調節。光斑輻照直徑有650nm紅光 指示。所有模塊均可拉出設計，對導入光性質無影響；
導入光光路可選擇光時間開關, 控制導入光的輻照時間，精度1ms,范圍2ms~oo,在控制界面上可對各種參數進 行詳細設置，成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25-10倍率，通常在高 低溫測試系統里會用到，同一個物鏡不切換，得到兩個不同視野的成像。
(4）TEC制冷卡盤
釆用TEC制冷，無需液氮，使用方便；
可給樣品提供不同溫度環境；
樣品臺大小可選，防干擾設計，具備良好的接地性能;
溫度范圍:負45°C~150°C,溫度分辨率：0.1°C,
溫度穩定性：土 0.3°C；
樣品臺微調升降，行程O-lOmm,精度10umo
(5)磁場探針臺(無磁設計)
在探針臺的基礎上，可加載三維磁場，多維磁場，磁場強度，精度和間隙均可調整;
高剛性結構，所有零配件均采用無磁化材料；
可加載高低溫，可同時進行DC和RF測試；
可以旋轉，可客制化。
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|⑹110g以上高頻測試探針臺
可配合市場主流擴頻模塊進行超高頻測試；
大行程高精度探針座,X-Y-Z-Theta四軸控制；
顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內移動,擴大了顯微鏡視場；
兼容直流與高頻信號；
可以定制,可升級性強；
可以測試12英寸樣品,探針臺chJKZC-UCk具備升降功能，便于樣品和 探針的快速分離。
(7)自動測試系統
自動探針測試系統，可以與半參，網分聯動；
電動二維平臺，可手動和電動操作；
ChJKZC-UCk XY軸運動行程100*100mm,復定位精度＜±lum；
X-Y軸驅動:電機+絲桿+光柵尺；
探針/光纖探針XYZ軸電動模塊30*30*30mm,復定位精度W ±lum；
X-Y-Z軸驅動:電機+絲桿+光柵尺。
(8)可升降平臺
產品型號：T-station
產品參數：
尺寸和重量定制；
單個探針座平臺最多可同時放置3個探針座；
探針座平臺表面鍍鏢，增大與探針座之間的吸附力;
隱匿螺紋固定于標準蜂窩板，美觀，并且方便拆卸；
平臺可升降，升降高度和精度可定制；
可配合光電流顯微鏡使用。
| (9)高精度納米探針座
產品型號：
JKZC-DCH-20nm
產品參數：
X軸分辨率：20nm,行程30um (旋鈕控制盒)；
YZ軸分辨率：10um,行程+-6.5mm；
釆用高精度壓電陶瓷設計，可以固定步距撥動樣品或者納米線。
(10)毫米級手持式探針夾具
I產品型號：JKZC-DCH
I產品參數
整體尺寸:20*20*180mm;
萬向調節旋鈕，方向可調，松緊可調；
磁吸底座，直徑20mm;
兼容彈簧針和晶圓針；
Cable接頭可定制三軸，同軸或者其它。
(11) FA失效分析探針臺
|產品型號：FA
I產品參數
探針臺系統可以選用：4~12英寸JKZC-DN系列探針臺。
激光系統可以選用美國ESI三波段激光器或者法國 quantel激光器
美國ESI (NEWWAVE)激光器參數
鐳射波長1064和532nm和355nm
輸出功率2.2mJ/pulse
擊打頻率lHz~50Hz
可加工的材質:Copper/Gold/Poly Silicon/Alu minum/Silicon Dixoide等
最小加工尺寸1微米(使用100X物鏡)
加工尺寸40微米(使用50X物鏡)
