XPS數(shù)據(jù)分析

XPS數(shù)據(jù)分析

XPS數(shù)據(jù)分析

XPS數(shù)據(jù)分析可以對全譜進(jìn)行定性定量分析；精細(xì)譜定量分析，以及標(biāo)注擬合元素的化學(xué)態(tài)、峰位置和含量；此外，XPS數(shù)據(jù)分析還可以做ARXPS線掃、面掃、深度剖析等特殊數(shù)據(jù)的分析。

使用的軟件有Casa，Multipak和Avantage，主要分析方法是查找資料，根據(jù)數(shù)據(jù)的峰形、結(jié)合能等信息判斷元素組成，化學(xué)態(tài)，價態(tài)等。

樣品要求

服務(wù)須知

對數(shù)據(jù)要求：需要分析的精細(xì)譜有譜峰出來；

注意事項(xiàng)：

1. XPS數(shù)據(jù)分析是基于您的數(shù)據(jù)真實(shí)反饋再結(jié)合數(shù)據(jù)分析的基本原則分析，XPS主要是分析化學(xué)價態(tài)的，對提供的化學(xué)結(jié)構(gòu)能起到輔助作用，針對配體新材料，合金材料，我們參考數(shù)據(jù)庫資料里面物質(zhì)（單質(zhì)，氧化物，簡單化學(xué)式等）資料分析，不會有您本身研究的這個新材料一模一樣或者類似的晶體結(jié)構(gòu)分析文獻(xiàn)。

2. 通過XPS數(shù)據(jù)處理軟件Avantage 對C1s精細(xì)譜進(jìn)行分峰擬合，根據(jù)C1s的峰型和能量位置可以把C1s分成四種化學(xué)態(tài)：結(jié)合能在283.5-284.0eV附近的C1s 主要?dú)w屬為無機(jī)碳；吸附碳和有機(jī)碳C-C/C-H 結(jié)合能通常在 285eV附近；C-O/C-N 化學(xué)鍵的結(jié)合能通常在285.8~287 eV之間；而C=O化學(xué)鍵的結(jié)合能通常在287.5~288.5eV之間；通過分峰擬合得到不同化學(xué)態(tài)以及不同化學(xué)態(tài)的原子百分含量（如結(jié)果展示中定量數(shù)據(jù)所示）。

3. XPS數(shù)據(jù)分析結(jié)果提供excel格式文件，里面的原始數(shù)據(jù)，可以用Origin畫圖。