詢價
- 類型：光譜儀
- 探測器：高性能CMOS陣列
- 放電電流：大400A
- 光柵焦距：401mm
- 放電頻率：100-1000Hz
- 波長范圍：140~680nm
一、儀器概述
全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，應用了日本濱松公司的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個數(shù)，與光譜儀技術同步，采用真空光室設計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡單易學，具有數(shù)據(jù)，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
二、主要技術參數(shù)
應用領域：冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。
可檢測基體：Fe，Al，Cu，Ni，Mg，Co，Zn，Pb，Ti
光學系統(tǒng)：帕型-龍格羅蘭圓全譜真空型光學系統(tǒng)
波長范圍：140~680nm
光柵焦距：401mm
探測器：高性能CMOS陣列
光源類型：數(shù)字光源，高能預燃技術（HEPS）
放電頻率：100-1000Hz
放電電流：大400A
工作電源：AC220V 50/60Hz 1200W
儀器尺寸：780*565*360mm
儀器重量：約78kg
檢測時間：依據(jù)樣品類型而定，一般20S左右
電極類型：鎢材噴射電極
分析間隙：4mm
其他功能：真空，溫度，軟件自動控壓力，通訊監(jiān)測
一、儀器概述
全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，應用了日本濱松公司的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個數(shù)，與光譜儀技術同步，采用真空光室設計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡單易學，具有數(shù)據(jù)，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
二、主要技術參數(shù)
應用領域：冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。
可檢測基體：Fe，Al，Cu，Ni，Mg，Co，Zn，Pb，Ti
光學系統(tǒng)：帕型-龍格羅蘭圓全譜真空型光學系統(tǒng)
波長范圍：140~680nm
光柵焦距：401mm
探測器：高性能CMOS陣列
光源類型：數(shù)字光源，高能預燃技術（HEPS）
放電頻率：100-1000Hz
放電電流：大400A
工作電源：AC220V 50/60Hz 1200W
儀器尺寸：780*565*360mm
儀器重量：約78kg
檢測時間：依據(jù)樣品類型而定，一般20S左右
電極類型：鎢材噴射電極
分析間隙：4mm
其他功能：真空，溫度，軟件自動控壓力，通訊監(jiān)測直讀光譜儀直讀光譜儀直讀光譜儀直讀光譜儀
