詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司從事光譜（X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、ROHS分析儀，便攜式光譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀ICP）、色譜、質譜（氣相色譜質譜聯用儀GCMS、液相色譜質譜聯用儀LCMS、電感耦合等離子體質譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供完善的行業整體解決方案。
X射線膜厚測試儀電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。
向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染X光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
樣品蓋需要經常用酒精棉球清潔。
X射線膜厚測試儀每次開機后，儀器都必須先預熱30分鐘，然后進行初始化，方可進行正常的檢測工作。
測量不同類型的樣品時，需從程序欄中選擇其對應的選項，才能保證的測量效果。
為使儀器能長期保持工作正常，需定期對儀器的各項參數進行測試，并進行調整。
X射線膜厚測試儀儀器：Thick800A
測定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標準曲線
第二步：確定測試時間：40S
第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
X射線膜厚測試儀產品特點
樣品處理方法簡單或無前處理
可快速對樣品做定性分析
對樣品可做半定量或準定量分析
譜線峰背比高,分析靈敏度高
不破壞試樣,無損分析
試樣形態多樣化(固體、液體、粉末等)
設備可靠、維修、維護簡單
便捷、低廉的售后服務保證
技術指標
X熒光膜厚儀型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
天瑞儀器是分析儀器行業上市公司，公司包括研發部、技術部、生產部、國內業務部及海外市場部、品管部、計劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財務部、及董秘處和行政部等部門，且公司規模日益壯大。天瑞儀器不斷探究世界分析領域的前端。為客戶提供電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案
