一 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統本設備適用標準
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法 二 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統主要測試材料:
1 固體材料：絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,豬肉等 2 液體材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,乙醚,甲醇,油類等 三 AS2855介電常數及介質損耗測試系統系統組成： 1 主機：JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統主機 功能名稱： | JKZC-JDS04-A主機QBG-3E | JKZC-JDS04-B主機QBG-3F | JKZC-JDS04--C主機AS2853A | 信號源范圍DDS數字合成信號 | 20HZ-1MHz | 10KHZ-/70MHZ/110MHz | 100KHZ-160MHz | 信號源頻率精度:6位有效數 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 | Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 | Q分辨率 | 4位有效數,分辨率0.1 | 4位有效數,分辨率0.1 | 4位有效數,分辨率0.1 | Q測量工作誤差 | <5% | <5% | <5% | 電感測量范圍:4位有效數,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH | 電感測量誤差 | <5% | <5% | <5% | 調諧電容 | 主電容30-540pF | 主電容30-540pF | 主電容17-240pF | 電容直接測量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF | 調諧電容誤差
分辨率 | ±1 pF或<1%
0.1pF | ±1 pF或<1%
0.1pF | ±1 pF或<1%
0.1pF | 諧振點搜索 | 自動掃描 | 自動掃描 | 自動掃描 | LCD顯示參數 | F，L，C，Q，Lt，Ct等 | F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等 | F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等 | 殘余電感自動扣除功能 | 有 | 有 | 有 | 大電容值直接測量顯示功能 | 測量值可達2.5uF | 測量值可達2.5uF | 測量值可達25nF | 介質損耗系數 | 精度 萬分之一 | 精度 萬分之一 | 精度 十萬分之五 | 介電常數 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 材料測試厚度 | 0.1mm-15mm | 0.1mm-15mm | 0.1mm-15mm | 介電常數 | 自動測試 | 自動測試 | 自動測試 | USB接口 |
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| 支持介電常數輸出以及產生曲線 |  介電常數
|  介質損耗
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|  USB接口上位機（介電常數曲線）
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| 2介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置： |
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| 固體電極：材料測量直徑 Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）
液體電極：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配） |
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