詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇蘇州
- 測量元素范圍：11Na (鈉)~92U(鈾)
- X射線管：高功率W 靶、Ag 靶、Rh 靶射線管
- 多導毛細管光學器件：φ25μm
- X射線檢測：SDD 探測器
- 樣品觀察：高分辨率CCD 變焦攝像頭
X射線PCB電路板鍍層厚度測厚儀
X射線PCB電路板鍍層厚度測厚儀特別適用于晶圓微區、PCB 電路板、芯片針腳等 chao 微小測量點的鍍層分析。
X射線管激發出來的X射線在毛細玻璃管的內壁以全反射的方式進行傳輸，利用毛細玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向， 從而實現X射線匯聚。
多導毛細管聚焦光學系統
結構設計
采用 chao 短光路系統， ji 好的減少了信號的損失；可電動切換的初級濾光片，大幅降低背景噪聲； 高 jing 度XY移動平臺，微米級移動 jing 度；搖桿按鍵操作配置、開蓋 zi 動彈出樣品平臺，樣品放置后操作相應按鍵即可快速 wan 成測試分析；
Quan 景+微區雙相機，不僅能展現測試點位細節，也能呈現高清廣角視野。
高分辨率的Fast-SDD 探測器
分辨率：145±5eV,能量響應范圍：1keV~40keV
分析 chao 薄樣品：厚度薄為nm 級的Au 鍍層
儀器性能特點
1、Zhuan 業化程度高
多通道數字譜圖界面，清晰化呈現被檢樣品的元素譜圖
軟件具有定性分析、zi 動元素識別功能，方便對樣品元素的識別和定性 具有疊加虛譜功能，方便作不同批次樣品的定性對比分析
軟件具有底材校正、能量校正、強度校正、密度校正等多種校正功能
除了檢測鍍層厚度以外，還可以檢測面密度，以及合金鍍層比例和合金成分
2、智能化程度高
開蓋自動彈出樣品平臺
支持多點測試，網格測試
3、操作簡單
通過雙攝像和雙激光點，可快速定位需要測量的區域 搖桿與快捷鍵按鈕，快速檢測，提升工作效率
4、準確檢測
毛細管聚焦光學結構搭配 jing 準ding位平臺，聚焦直徑小至10um
高分辨率Fast-SDD 探測器可對 chao薄樣品準確分析
維護簡單，方便友好
測試示例
