芯片高低溫變溫測試臺是一款針對芯片、光器件變溫性能測試的多功能測試平臺,XYZ軸可任意調節,XY軸調節范圍0-250mm,軸調節范圍0-200mm,控溫精度±0.01℃,控溫范圍-50℃-120℃(非標可定制),觸摸屏控制,友好的人機界面,RS232、RS484遠程控制接口,無噪聲、無振動,升降速率可調。組成部分:半導體冷熱臺、高精度半導體溫度控制器、溫控軟件、水循環系統(選配)。樣品臺尺寸 可根據實際要求定制。常規尺寸:從 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形狀:圓形,方形等可根據實際需要定制。



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