詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司從事光譜（X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、ROHS分析儀，便攜式光譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀ICP）、色譜、質譜（氣相色譜質譜聯用儀GCMS、液相色譜質譜聯用儀LCMS、電感耦合等離子體質譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供完善的行業整體解決方案。
鍍錫單絲錫層測厚儀：Thick800A
測定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標準曲線
第二步：確定測試時間：40S
第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
應用優勢
鍍錫單絲錫層測厚儀針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
內置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
鍍錫單絲錫層測厚儀鍍層樣品測試注意事項
先要確認基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質，比如PCB印刷版基材中環氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標準片底材元素含量不一致的，則需要進行基材修正，選用樣品所相似的底材進行曲線標定 。
標準配置
鍍錫單絲錫層測厚儀開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
天瑞儀器是分析儀器行業上市公司，公司包括研發部、技術部、生產部、國內業務部及海外市場部、品管部、計劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財務部、及董秘處和行政部等部門，且公司規模日益壯大。天瑞儀器不斷探究世界分析領域的前端。為客戶提供電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案
