詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司從事光譜（X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、ROHS分析儀，便攜式光譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀ICP）、色譜、質譜（氣相色譜質譜聯用儀GCMS、液相色譜質譜聯用儀LCMS、電感耦合等離子體質譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供完善的行業整體解決方案。
應用領域
對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
性能特點
電鍍錫測厚儀滿足不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
電鍍錫測厚儀定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點
高分辨率探頭
良好的射線屏蔽作用
測試口傳感器保護
電鍍錫測厚儀鍍層樣品測試注意事項
先要確認基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質，比如PCB印刷版基材中環氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標準片底材元素含量不一致的，則需要進行基材修正，選用樣品所相似的底材進行曲線標定 。
電鍍錫測厚儀產品特點
樣品處理方法簡單或無前處理
可快速對樣品做定性分析
對樣品可做半定量或準定量分析
譜線峰背比高,分析靈敏度高
不破壞試樣,無損分析
試樣形態多樣化(固體、液體、粉末等)
設備可靠、維修、維護簡單
便捷、低廉的售后服務保證
天瑞儀器是分析儀器行業上市公司，公司包括研發部、技術部、生產部、國內業務部及海外市場部、品管部、計劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財務部、及董秘處和行政部等部門，且公司規模日益壯大。天瑞儀器不斷探究世界分析領域的前端。為客戶提供電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案
