詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
國產x熒光膜厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等；精密測量金屬電鍍層的厚度；主要應用在：電路板、端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、電阻電容、螺栓、螺母、彈簧類緊固件、PCB、FPC、LED、SMD、高壓開關、天線、五金衛浴、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾品等，以及檢測機構以及研究所和高等院校等。
國產x熒光膜厚儀滿足標準 1.精密度定義為同樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度就是重現性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。 2.重復性定義為儀器測同款樣品的連續測試十次或二十次的相對標準偏差。 3.準確度定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。 4. 誤差X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統計漲落引起的誤差作為測量的誤差。 5.檢出限（Limit of detection）當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，就稱為檢出限（或叫低檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。 6.計數統計誤差在放射性物質的測量中，設儀器穩定性、機械在現性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數統計誤差還是不能。國產x熒光膜厚儀X射線強度是把入射到計數器上的光子變成脈沖后計數而得到的。因而計數值在本質上具有統計誤差。 被測X射線的計數值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N就叫統計誤差。時間越長，則相對偏差就越小，即精度就越高。
國產x熒光膜厚儀主要優點 1、快速：般測量個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。 2、無損：物理測量，不改變樣品性質 3、準確：對樣品可以分析 4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布幕了然，定性分析速度快 5、環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水
