詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
技術指標
鍍鉻測厚儀大公司型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
鍍鉻測厚儀分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
鍍鉻測厚儀多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
鍍層分析儀
應用優勢
鍍鉻測厚儀針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
內置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
鍍層分析儀
性能特點
鍍鉻測厚儀滿足不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可測試點
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點
江蘇天瑞儀器股份有限公司從事光譜（X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、ROHS分析儀，便攜式光譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀ICP）、色譜、質譜（氣相色譜質譜聯用儀GCMS、液相色譜質譜聯用儀LCMS、電感耦合等離子體質譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業提供完善的行業整體解決方案。
注意事項
開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。
向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染X光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
樣品蓋需要經常用酒精棉球清潔。
每次開機后，儀器都必須先預熱30分鐘，然后進行初始化，方可進行正常的檢測工作。
測量不同類型的樣品時，需從程序欄中選擇其對應的選項，才能保證的測量效果。
為使儀器能保持工作正常，需定期對儀器的各項參數進行測試，并進行調整。
