- 測試平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
- 探測器:SDD探測器
- 工作原理:利用x射線對金屬表面進行激發,檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小:φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家研發、生產X熒光鍍層測厚儀,直讀光譜儀,手持式光譜儀,手持式合金分析儀,氣相質譜儀,液相質譜儀,X熒光測厚儀,電感耦合等離子發射光譜儀,等離子體質譜儀,手持式不銹鋼材質檢測光譜儀,鍍層膜厚測試儀,X熒光測厚儀的廠家,分析儀器上市公司,公司坐落于江蘇省蘇州市昆山市,歡迎廣大客戶前來參觀考察。
Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經驗,研發生產的用于鍍層行業的一款無損測試儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上為其開發的軟件,在鍍層行業中應用廣泛。
技術指標
X熒光測厚儀型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
X熒光測厚儀注意事項
開啟儀器電源開關時,動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。
向樣品腔放置樣品時,要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會污染X光管和探測器窗口,造成測量失準和探頭損壞;同時,還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測量窗口的薄膜被破壞。
樣品蓋需要經常用酒精棉球清潔。
X熒光測厚儀每次開機后,儀器都必須先預熱30分鐘,然后進行初始化,方可進行正常的檢測工作。
測量不同類型的樣品時,需從程序欄中選擇其對應的選項,才能保證的測量效果。
為使儀器能長期保持工作正常,需定期對儀器的各項參數進行測試,并進行調整。
X熒光測厚儀:Thick800A
測定步驟:
步:新建SnPb-Cu鍍層厚度標準曲線
第二步:確定測試時間:40S
第三步:測試其重復性得出相對標準偏差
天瑞儀器產業園期已經竣工并于2010年5月投產使用。天瑞儀器分析測試產業園歷經三年建設,總投資數億元的現代化園區占地100畝。產業園分為期和第二期,期總建筑面積約34,000平方米,投資逾億建設的10層高智能化研發大樓以及工業別墅廠房目前已完工投入使用, 園區按“統一規劃、合理布局”的原則,堅持高起點、高標準、高質量的要求,生產廠房設計完全符合現代儀器制造環境的要求。負壓式通風、除塵設施、自然采光設計與防靜電等技術的應用,保證了良好的生產環境,符合國際環保和節能的要求,體現了綠色生產的理念。






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