詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
陶瓷金屬化鍍層膜厚儀介紹，Thick800Ax射線鍍層測厚儀是天瑞公司結合多年經驗專門研發的一款儀器，專為鍍層行業設計。該儀器具備全自動軟件操作功能，支持多點測試，由軟件控制測試點和移動平臺。它是一款功能強大的設備，配合專門開發的軟件，在鍍層行業中能夠發揮出色的性能。
詳情介紹
陶瓷金屬化鍍層膜厚儀的性能特點
滿足各種不同厚度和不規則表面樣品的測試需求。
φ0.1mm的小孔準直器能夠滿足微小測試點的要求。
高精度移動平臺能夠定位測試點，其重復定位精度小于0.005毫米。
使用高精度激光，可以自動確定測試的高度。
陶瓷金屬化鍍層膜厚儀通過激光定位來確定光斑位置，以確保測試點與光斑保持對齊。
鼠標能夠操控移動平臺，鼠標點擊的位置即為測量點。
高分辨率探頭使得分析結果更加準確。
出色的輻射防護效果
測試口的高度敏感傳感器保護。
X射線鍍層測厚儀有哪些品牌和技術參數？
型號：厚型800A
陶瓷金屬化鍍層膜厚儀的元素分析范圍涵蓋從硫(S)到鈾(U)。
可以同時分析多達24個元素，具有五層鍍層。
分析的檢出限可達到2ppm，薄樣品可測試至0.005μm。
分析的含量通常在2ppm到99.9%之間。
鍍層的厚度通常在50微米以內（具體數值因材料而異）。
可以選擇的分析和識別模型的任意多個。
相互獨立的基底效應修正模型
多變量非線性回收算法
多次測量的重復性可達到0.1%。
長期工作穩定性的達成率為0.1%。
適用溫度范圍為15℃至30℃。
電源要求：交流220V±5V，建議使用交流凈化穩壓電源。
儀器尺寸為：576毫米（寬） x 495毫米（深） x 545毫米（高）。
體重：90千克
標準配置
陶瓷金屬化鍍層膜厚測量儀的開放式樣品腔。
精密的二維移動樣品平臺，配備可上下移動的探測器和X光管，實現三維位移。
雙激光定位系統。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器是一種探測器類型。
信號檢測電子電路。
高低壓電源裝置。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機與噴墨打印機
應用領域
對黃金、鉑金、銀等貴金屬及各類首飾的成分檢測。
測量金屬鍍層的厚度，以及檢測電鍍液和鍍層的成分含量。
陶瓷金屬化鍍層膜厚儀主要應用于貴金屬和首飾的加工行業，以及銀行、首飾銷售和檢測機構，此外還可服務于電鍍行業。
