詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
能量色散型XRF鍍層分析儀是天瑞公司經過多年經驗研發的一款專門針對鍍層行業的儀器。該儀器支持全自動軟件操作，能夠進行多點測試，由軟件控制測試位置和移動平臺。它功能強大，配合專為其設計的軟件，在鍍層領域表現出色。
詳情介紹
能量色散型XRF鍍層分析儀的性能特點
滿足各種厚度和不規則表面樣品的測試需求。
φ0.1mm的小孔準直器能夠滿足微小測試點的要求。
高精度移動平臺能夠定位測試點，其重復定位精度小于0.005毫米。
使用高精度激光，可以自動確定測試的高度。
能量色散型XRF鍍層分析儀通過激光定位來確定測試點，以確保測試位置與光斑對齊。
鼠標可以用來控制移動平臺，鼠標點擊的位置即為待測點。
高分辨率探頭能夠提升分析結果的準確性。
優良的輻射屏蔽效果
測試口高度敏感傳感器的保護措施
能量色散型XRF涂層分析儀的技術參數
型號：厚型800A
元素分析的范圍包括從硫(S)到鈾(U)。
一次可以同時分析多達24種元素，具有五層鍍層。
分析的檢出限達到2ppm，薄膜的測試厚度可達到0.005μm。
分析含量通常在2ppm到99.9%之間。
鍍層的厚度通常不超過50微米（具體視材料而定）。
可以選擇的多個分析與識別模型。
相互獨立的基體效應修正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量的重復性可達到0.1%。
長期工作的穩定性可達到0.1%。
適宜的溫度范圍為15℃至30℃。
電源要求：交流220V±5V，建議使用交流凈化穩壓電源。
儀器尺寸為：寬576毫米 x 深495毫米 x 高545毫米。
體重：90公斤
標準配置
開放式樣品室。
能量色散型XRF鍍層分析儀配備了精密的二維移動樣品平臺，同時具備可上下移動的探測器和X光管，實現三維位移。
雙激光定位系統。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin 探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機和噴墨打印機
應用領域
對黃金、鉑金、白銀等貴金屬及各種珠寶首飾進行成分檢測。
金屬鍍層厚度的測量以及電鍍液和鍍層成分的分析。
能量色散型XRF鍍層分析儀主要應用于貴金屬加工與珠寶制作行業，銀行、珠寶銷售及檢測機構，以及電鍍行業。
