詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
x熒光層測厚儀俗稱x光層測厚儀、涂層測厚儀、膜厚儀、膜厚儀、金鎳厚儀、電鍍膜厚儀等。；金屬涂層厚度的測量；主要用于:電路板、端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶飾品、汽車配件、電阻電容器、螺栓、螺母、扭簧緊固件、PCB、FPC、LED、SMD、高壓開關、天線、五金浴室、汽車零部件、功能電鍍件、裝飾品等，以及檢測中心、研究所、高校等。
產品優勢
x熒光層測厚儀選用高度定位激光，能準確定位高度
定位激光確定定位光點，確保測試點與光點對齊
鼠標可以控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點
高分辨率探頭使分析數據更加強大
良好的射線屏蔽效果
x熒光層測厚儀滿足不同厚度樣品和不規則表面樣品的測試要求
φ0.1mm小孔準直器能滿足細微測試點的需要
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度低于0.005mm
檢測口高度敏感性傳感器保護
產品優勢
精密二維移動樣品平臺、探測器和x光管上下移動，實現三維移動。
雙激光定位設備。
鉛玻璃屏蔽罩。
x瑩光層測厚儀
信號檢測電子線路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機和噴碼機
型號：XRF涂層測厚儀Thick800A
元素分析范圍為硫(S)到鈾（U）。
同時可分析30多種元素，五層涂層。
x瑩光層測厚儀的分析含量一般為ppm到99.9%。
外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm
樣品室大小：500(W)×350(D)×140(H)mm
重量：90kg標準配備開放式樣品腔。
滿足標準
1.精度定義為同一產品多次測量的平均值m和每次測量值的mi差。也就是說，精度是重現性的(Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析的精度與檢測時間有關，測量時間越長，精度越高。2.重復性定義為儀器對同一樣品連續檢測十次或二十次的相對標準偏差。
3.度定義為各測量值mi對真值的定義（t）誤差。因此，如果精度差，程度也會定差。相反，程度很差，有時精度很高。這是因為有時可能會出現系統偏差。想要性。（Reliability）好的，精度和程度都要求高。
4.偏差X熒光分析的誤差通常很難計算，因此，通常以統計波動引起的誤差作為測量誤差。
x熒光層測厚儀主要優點
1、快速:一般測量樣品只需1個～3分鐘內，樣品可不處理或簡單處理。
2、無損：物理測量，不改變樣品特性
3、：樣品可以分析
4、直觀：直觀分析地圖，元素分布清晰，定性研究速度快
5、環保:檢測過程中不產生廢氣、污水
公司簡介
江蘇天瑞儀器有限公司是一家擁有獨立知識產權的高新技術企業，注冊資本46176萬元。擁有蘇州天瑞環境技術有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳天瑞儀器有限公司、上海貝西生物技術有限公司、天瑞環境技術（仙桃）有限公司、廈門質譜儀器有限公司、江蘇檢測技術有限公司、上海盤河科技儀器有限公司。總部位于江蘇省昆山市陽澄湖畔。企業從事光譜、色譜、質譜、X射線測厚儀、ROHS分析儀、重金屬測試儀、X射線光測厚儀、ROHS鹵素設備、XRF儀、電鍍測厚儀、X-Ray光譜儀、八大重金屬檢測儀、金屬涂層測厚儀等分析測試儀及其軟件的研發、生產和銷售。
