詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
熒光測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經驗。它是涂料行業的一種儀器，可以通過軟件控制設備的測試點和移動平臺進行全自動軟件操作和多點檢測。是一種功能強大的儀器，配合門開發的軟件，在涂料行業可謂施展才華。
熒光測厚儀應用領域
鐵基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，
□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基材－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
熒光測厚儀
應用
1快速:一般測量樣品只需30SS～300S，樣品可不處理或簡單處理；
2無損：物理測量，不改變樣品特性；
3：樣品可分析；
4直觀：直觀分析譜圖，元素分布場景清晰，定性研究速度快；
5環保：檢測過程中無廢氣、污水。
儀器配備
1硬件：一臺主機，包括以下主要部件：
(1)X光管(2)半導體探測器
(3)放大電路(4)樣品移動平臺
(5)高清攝像頭(6)高壓系統
(7)上照，開放式樣品腔(8)雙激光定位
(9)玻璃屏蔽罩
2軟件：天瑞X射線熒光光譜儀Fpthick分析軟件V1.00
3每臺計算機，每臺打印機
計算機(品牌、P4、液晶顯示)、打印機(佳能、彩色噴墨打印機)
4資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗證書、貨運單、保修單等應提供各一份材料。
5標準配件
準直孔：0.1X1.0mm(已內置于儀器中)
熒光測厚儀 參數規格
1分析要素范圍：S-U
2同時可分析5層以上涂層
3分析薄厚檢出限達0.005μm
4多次測量的重復性可達0.01μm
5定位精度：0.1mm
6測量時間：30s-300sss
7計數：1300-8000cpsps
8Z軸升降范圍：0-140mm
9X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)
x-瑩光測厚儀的功能特點
1滿足不同厚度樣品和不規則表面樣品的測試要求；
2φ0.1mm小孔準直器能滿足細微測試點的需要；
3移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；
4選用高度定位激光，可準確定位檢測高度；
5定位激光定位光點，確保測試點與光點對齊；
6鼠標可以控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點；
7高分辨率探頭使分析數據更多；
8良好的射線屏蔽效果；
9檢測口高度敏感性傳感器保護
