詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
x熒光射線測厚儀簡述
Thick800Ax射線測厚儀是門為涂層厚度測量精心設計的新型儀器。主要用于金屬涂層厚度測量、電鍍液和涂層含量測量；檢測金屬、鉑、銀等貴金屬及各種裝飾品的含量。
技術指標
x熒光射線測厚儀分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
檢驗元素：多24個元素，高達五層涂層
檢出限制：可達2ppm，薄可檢測0.005μm
分析內容：一般為2ppm到99.9%
涂層厚度：一般為50μ重復性在m以內(每種材料不同):可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135
x熒光射線測厚儀采用微孔矯直技術，小孔徑為0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察:配置場景及當地兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф四種準直器組合0.3mm
儀器尺寸：690（W）x575（D）x660（H）mm
樣品室大小：520（W）x395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x258(D）mm
X/Y/Z平臺移速：額定速度200mm/s高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度：低于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度15℃～30℃
性能優勢
x熒光射線測厚儀
樣品觀測系統
的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢驗
四種微孔聚焦準直器，自動選擇
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，減少檢出限制，提高檢測精度
自動智能控制方法，鍵式操作！
啟動自動退出自檢，復位自動退出自檢
打開蓋子自動退出樣品臺，提升Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推動樣品臺，減少Z軸測試平臺，自動執行對焦
直接點擊場景或局部場景圖像選擇測試點
點擊軟件界面檢測按鈕，自動執行檢測并顯示測試結果
