■ 光譜范圍廣，靈敏度高，測量精準度高；
■ 優良的機械和溫度穩定性，保證產品的一致性；
■ 預留各種接口，兼容各種光譜設備, 穩定的光學性能，方便集成到系 統中;
■ 成本低，操作簡單，是OEM應用的理想選擇;
■ 采用超環面影像校準設計，光譜影像校正，多通道光譜研究的出色解決方案；
■ 出色的雜散光抑制比（5X10-5）；
■ 雙光柵塔臺設計，覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍，即插即用，只需 零級校正，實驗操作更加方便；
■ 多種高性能的紫外-可見-紅外探測器可選 ；
■ 多種附件可選，包括：濾光片輪、電動狹縫、電動快門、光纖等；
■ 可與光源、探測器自由組合，實現熒光、拉曼、透射/反射、吸收光 譜及光源發射光譜測試。
規格參數表（@1200g/mm光柵）：
規格參數表@不同光柵：
注 1：狹縫光譜分辨率，常規光譜儀在中心波長 435.83nm，狹縫寬度為 10μm；鍍金光譜儀在中心波長 632.8nm，狹縫寬度 100μm；
注 2：200i 光譜儀，只有側入口，沒有直入口；出口，只有側出口才能配置 CCD 接口；出口狹縫無法配置電動狹縫。
注 3：CCD 單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為 435.83nm 下的典型值，隨著中心波長增加，攝譜范圍變窄；
注 4：隨著中心波長的增大，倒線色散數值減小；隨著中心波長的減小，倒線色散數值增大。
典型型號表：
注1：本型號系列，為手動狹縫（電動狹縫需要額外選擇）；
注2：本型號系列，需要額外選配光柵，最多可配置2塊光柵；
注3：本型號系列，不包含濾光片輪、快門等附件，需要額外選擇配置；CCD出口已配置CCD接口法蘭；
注4：更多配置型號，請咨詢本公司相關銷售。
典型Omni-λ200i外形尺寸圖：
Omni-λ200i入口：
Omni-λ200i出口：
