■ 光譜范圍廣,靈敏度高,測量精準度高;
■ 優良的機械和溫度穩定性,保證產品的一致性;
■ 預留各種接口,兼容各種光譜設備, 穩定的光學性能,方便集成到系 統中;
■ 成本低,操作簡單,是OEM應用的理想選擇;
■ 采用超環面影像校準設計,光譜影像校正,多通道光譜研究的出色解決方案;
■ 出色的雜散光抑制比(5X10-5);
■ 雙光柵塔臺設計,覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍,即插即用,只需 零級校正,實驗操作更加方便;
■ 多種高性能的紫外-可見-紅外探測器可選 ;
■ 多種附件可選,包括:濾光片輪、電動狹縫、電動快門、光纖等;
■ 可與光源、探測器自由組合,實現熒光、拉曼、透射/反射、吸收光 譜及光源發射光譜測試。
規格參數表(@1200g/mm光柵):

規格參數表@不同光柵:

注 1:狹縫光譜分辨率,常規光譜儀在中心波長 435.83nm,狹縫寬度為 10μm;鍍金光譜儀在中心波長 632.8nm,狹縫寬度 100μm;
注 2:200i 光譜儀,只有側入口,沒有直入口;出口,只有側出口才能配置 CCD 接口;出口狹縫無法配置電動狹縫。
注 3:CCD 單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為 435.83nm 下的典型值,隨著中心波長增加,攝譜范圍變窄;
注 4:隨著中心波長的增大,倒線色散數值減小;隨著中心波長的減小,倒線色散數值增大。
典型型號表:

注1:本型號系列,為手動狹縫(電動狹縫需要額外選擇);
注2:本型號系列,需要額外選配光柵,最多可配置2塊光柵;
注3:本型號系列,不包含濾光片輪、快門等附件,需要額外選擇配置;CCD出口已配置CCD接口法蘭;
注4:更多配置型號,請咨詢本公司相關銷售。
典型Omni-λ200i外形尺寸圖:


Omni-λ200i入口:

Omni-λ200i出口:









