型號/規(guī)格：TA63070#$時代%^71#$貿易商%^143#$全新%^72#$北京

產品描述：TA630/TA631北京時代微調平臺新價格，TA630/TA631北京時代微調平臺湖北武漢經銷商，TA630/TA631北京時代微調平臺湖北武漢供貨商，請找 武漢科賽思機電有限公...

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型號/規(guī)格：HGGM0110

產品描述：HGGM01系列小型角位臺特點：l 提供旋轉角度調節(jié)l 安裝面水平放置，方便安裝固定l 成對設計，疊加后旋轉中心為同一點，可進行正交雙軸同心旋轉調整l 蝸輪副驅...

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型號/規(guī)格：HGGM0110

產品描述：HGGM01系列小型角位臺特點：l 提供旋轉角度調節(jié)l 安裝面水平放置，方便安裝固定l 成對設計，疊加后旋轉中心為同一點，可進行正交雙軸同心旋轉調整l 蝸輪副驅...

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型號/規(guī)格：SRZW-R-360°-1

產品描述：SRZW-R-360°-1軸承微分頭旋轉微調平臺：采用軸承微分頭結構，可實現(xiàn)360°粗調，8°左右細調，規(guī)格如下：序號型號移動方向臺面尺寸(mm)行程螺距(mm...

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型號/規(guī)格：SRZW-R-360°-1

產品描述：SRZW-R-360°-1軸承微分頭旋轉微調平臺：采用軸承微分頭結構，可實現(xiàn)360°粗調，8°左右細調，規(guī)格如下：序號型號移動方向臺面尺寸(mm)行程螺距(mm...

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型號/規(guī)格：單軸/雙軸/平移/升降/旋轉

產品描述：產品名稱：AF0605-35x35-M-40ST -XYZ產品介紹： 適用于使用較低、進行微小調整的場合，常用于量測、檢測相關設備中產品應該用： 影像量測系統(tǒng)、半導體設...

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型號/規(guī)格：單軸/雙軸/平移/升降/旋轉

產品描述：產品名稱：AF0605-35x35-M-40ST -XYZ產品介紹： 適用于使用較低、進行微小調整的場合，常用于量測、檢測相關設備中產品應該用： 影像量測系統(tǒng)、半導體設...

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型號/規(guī)格：SBQG-B-20°-1

產品描述：QG-B-20°-1鋼球蝸輪蝸桿擺動微調平臺：采用鋼球蝸輪蝸桿結構，實現(xiàn)20°擺動調節(jié)，規(guī)格如下： 序號型號移動方向臺面尺寸(mm)行程螺距(mm)小讀數(shù)(mm)定...

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型號/規(guī)格：SBQG-B-20°-1

產品描述：QG-B-20°-1鋼球蝸輪蝸桿擺動微調平臺：采用鋼球蝸輪蝸桿結構，實現(xiàn)20°擺動調節(jié)，規(guī)格如下： 序號型號移動方向臺面尺寸(mm)行程螺距(mm)小讀數(shù)(mm)定...

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型號/規(guī)格：SLJL-X-100mm-1

產品描述：SLJL-X-100mm-1交叉滾子螺桿微調平臺：可實現(xiàn) X、Y方向的手動調節(jié)，行程為50mm，采用交叉滾子和精密螺桿結構，負載能力強，高，具體尺寸如下: 序號型號移動方...

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型號/規(guī)格：SLJL-X-100mm-1

產品描述：SLJL-X-100mm-1交叉滾子螺桿微調平臺：可實現(xiàn) X、Y方向的手動調節(jié)，行程為50mm，采用交叉滾子和精密螺桿結構，負載能力強，高，具體尺寸如下: 序號型號移動方...

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型號/規(guī)格：單軸/雙軸/平移/升降/旋轉

產品描述：產品名稱：R3-90x90-XY-A 產品介紹： 適用于使用較低、進行微小調整的場合，常用于量測、檢測相關設備中產品應該用： 影像量測系統(tǒng)、半導體設備 定位控...

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型號/規(guī)格：單軸/雙軸/平移/升降/旋轉

產品描述：產品名稱：R3-90x90-XY-A 產品介紹： 適用于使用較低、進行微小調整的場合，常用于量測、檢測相關設備中產品應該用： 影像量測系統(tǒng)、半導體設備 定位控...

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型號/規(guī)格：GZ40-C/L/R- SM 10102#$IOEC%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

產品描述：手動調整產品：升降平臺 手動升降臺 手動調整架

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型號/規(guī)格：GZ40-C/L/R- SM 10102#$IOEC%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

產品描述：手動調整產品：升降平臺 手動升降臺 手動調整架

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產品描述：TA610測量平臺： 齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量。花崗巖平臺工作面：00級(平面公差值3μm)花崗巖平臺大小尺寸：400m...

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產品描述：TA610測量平臺： 齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量。花崗巖平臺工作面：00級(平面公差值3μm)花崗巖平臺大小尺寸：400m...

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產品描述：TA610測量平臺： 齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量。花崗巖平臺工作面：00級(平面公差值3μm)花崗巖平臺大小尺寸：400m...

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產品描述：TA610測量平臺： 齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量。花崗巖平臺工作面：00級(平面公差值3μm)花崗巖平臺大小尺寸：400m...

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