通過(guò)總結(jié)國(guó)外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn),本著實(shí)用、方便、測(cè)試精簡(jiǎn)的宗旨，面向國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)推出的數(shù)字IC參數(shù)測(cè)試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器適合，整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前，對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試，已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求。Simi-100 數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀，利用的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。Simi-100可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。Simi-100是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的測(cè)試儀器。

本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)
測(cè)試范圍及測(cè)試品種：28Pin
54系列； 74系列；
4500系列；4000系列；
RAM 256K BIT
EPROM 64K BIT
C00 系列；

產(chǎn)品主要性能：
在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上 測(cè)試器件的輸入端注入電流。
測(cè)試器件的功耗電流。
測(cè)試器件的輸入端交叉漏電流。
查找未知芯片型號(hào)。
測(cè)試器件的輸出端：三態(tài)“及”O(jiān)C“門。 可以單次測(cè)試，也可以循環(huán)測(cè)試。
測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。
可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74H等）。

本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù)：
8種可選擇的測(cè)試電阻。
可設(shè)置多種輸入端注入電流。
多種測(cè)試電壓比較值。
功耗測(cè)試。
以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測(cè)試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測(cè)試模式。

測(cè)試模式：
模式O：全組合參數(shù)測(cè)試。
模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。
模式D：任選輸入負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸入電流測(cè)試。
模式E：自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示，鍵盤及測(cè)試管腳電路。
模式F：自編程測(cè)試.

Simi-100 數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀
測(cè)試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測(cè)試。

對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)，完成真值表功能測(cè)試。

真值表功能測(cè)試的同時(shí)，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測(cè)試。

對(duì)IC輸入電流、功耗電流測(cè)試。

輸入漏電流及交叉漏電流測(cè)試。

測(cè)試過(guò)程無(wú)須人工干預(yù)。

用戶可以自選測(cè)試模式，使用方便、操作簡(jiǎn)潔。

可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。

可以查找未知IC的型號(hào)。

目前Simi100的作用單位已通信、電子儀器、電力電子、辦公自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算機(jī)整機(jī)、交通電子、消科學(xué)器材等各個(gè)領(lǐng)域。