·基本：±0.8%
·的校準和誤差補償技術
·四種元件用的測試夾具（被測件尺寸：0.5mm~20mm)
·在兩上通道內選擇參數
·直接讀出介電常數，導磁率
·兩種材料用的夾具（工作溫度范圍：-55℃~-200℃）
·能進行多種分析（溫度、科爾圖、弛豫時間）
·多種掃描參數（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

性能群

    Agilent4291B射頻阻/材料分析儀能方便。高地測量表面安裝元件，電介質材料和磁性材料。蛇一反以往的反射測量技術采用直流電壓——電流測量技術，從而可在寬阻范圍進行低損耗元件分析。內部合成器對1MHz至1.8GHz的頻率掃描，分辨率為1mHz，1.8m長的無誤差電纜將分析儀接至測試臺，因而擴展了分析儀至測試點的距離，且于測量，的校準技術和誤差補償功能消除了夾具測量誤差因素，從而了DUT/MUT測量的重復性和高。

    Agilent 4291B通過IBASIC編程功能還提供對測試信號的電平自動控制和監測，可在恒壓，恒流狀態下測量器件。借助可選擇的直流偏聽偏置（達40V，100mA）可測量依賴于偏置的阻特性。按動旋鈕，內設等效電路分析功能自動計算5個電路模型的電路帶數值。

    Agilent 4291B有兩上測量通道：每個通道均可設定測量單（即Z）或雙（即Z-θ）阻參數，彩色、分害薄膜晶華麗管（TFT）可顯示兩條現行的掃跡和存儲掃跡（存儲在隨機存取存儲器內）內設軟盤驅動器用于以LIF或MS-DOS格式存儲程序和測試數據。

    利用內置IBASIC，可以直接由Agilent 4291B控制外部測試設備，如恒溫箱或晶片檢測器，而無需單元獨的儀器控制器。

主要特性：

·可直接讀出材料參數（介電常數、導磁率）
·具有材料分析功能（科爾圖，弛豫時間分析）
·借助多種掃描參數（頻率、信號電平、濕度等）進行廣泛的評價。
 
測試夾具

    可以選擇以下四種元件測試夾具：Agilent 16191A,16192A,16193A和16194A。這些夾具有直接接到測試臺的APC-7連接器上，每種夾具都是針對不同的元件尺寸范圍（從0.5mm到20mm)來設計的，可以連接不同類型的終端。這幾種可調節的夾具簡化了器件的連接。對于溫度系數的測試，HP 16194A高溫元件測試夾具可用于溫度范圍從-55℃到+200℃的恒溫爐內。該夾具與4291B的內置補償軟件一道工作時，能阻測量的和重復性。16453A介質材料測試夾具和16454A磁性材料測試夾具了測量介電常數和導磁率的測量，簡化了測量過程。這些材料夾具的有從-55℃到+200℃的寬廣工作溫度范圍。

    對于薄膜器件和半導體的測試，Agilent 4291B很容易接到晶片檢測器上。用一根加長電纜將4291B的測試頭接到檢測座上，對于溫度和濕度的測試，4291B可以通過GPIB對外部/濕度室進行控制，并顯示出結果隨溫度或濕度變化的情況。

使用方便

    利用Aglient 4291B對阻進行測試十分方便，分析儀加入了在線校準和補償程序，以簡化測試任務。標記和限線功能提供了快速數據分析。