薄膜測量領域的#1品牌
F70使用新的顏色編碼厚度測量法(CTM)極大了拓展了可測膜層厚度，使其達到了3.5mm的歷史新高度。而且，CTM的主要優點在于受膜層的粗糙度和非均勻性的影響比較小，而且能測量曲面鍍膜的厚度。
F70有以下測量范圍以供選擇，具體規格如下：
| Lens Assembly or Upgrade Kit | Thickness Range (Index=1.5) |
Precision | Spot Size |
| UPG-F70-SR-KIT | 15 nm-50 μm | 0.1 nm | Standard 1.5 mm (Optional down to 20 μm) |
| LA-CTM-VIS-1mm | 50 μm-1.5 mm | 0.15 μm | 5 μm |
| LA-CTM-VIS-2.4mm | 150 μm-3.5 mm | 0.1 μm | 10 μm |
*以上數值會因薄膜堆疊層數變化而有所不同。
應用
●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量，即使是藥片，木材或紙張等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光學鏡頭和眼科鏡片。
優勢及售后服務：
- 擁有130多種材料的數據庫
- 軟件更新
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