技術指標：

（1）測量范圍和：

0.01ｕｍ～50（100）ｕｍ，≤&plun;１０％      合ISO2177-2003、GB/T 4955—1997、ASTM B504-90(2002)、ASTM B764-94(2003)(STEP試驗)國際和標準。

（2）測量對象：     

① 單金屬鍍層（如Cu、Zn、Ni、Au、Ag、Cr、Sn、Cd、Pb）；

②合金鍍層（如Ｐｂ－Ｓｎ、Ｃｕ－Ｚｎ、Ｚｎ－Ｎｉ、Ｎｉ－Ｐ等合金）；

③復合鍍層（如Cu+Ni+Cr等）；

④多層鎳（需配普通個人電腦或采用X－Y記錄儀）。

（3）電源：AC220V&plun;10%  50Hz– 60HZ  

（4）儀器功耗：≯30 VA

(5)環境溫度：15℃－40℃

（6）儀器尺寸：   130×248×280mm(高×寬×厚)

生產廠家能力：電腦庫侖測厚儀發明人，。知識產權，研發生產

性能及優點：

（1）    電腦庫侖測厚儀發明廠家，擁有自主的技術。目前擁有；

（2）    擁有中英文雙語版（全英文界面，可打印英文測試）

（3）    2006年一類重點院校武漢大學采購儀器招標，我們的－A電腦智能測厚儀中標；

（4）    廈門大型臺資企業在考察了國內產品，包括國外廠家的庫侖測厚儀，終選擇了我們的產品。

（5）    國內我們的儀器可以測量金“邁金”（微英寸）、銀、錫（1μm＝39.37“邁”）；

（6）    國內我們的儀器可以準確測量化學鍍鎳；

（7）    國內我們的儀器可以智能化測量0.1－3mm線材鍍層（圓形截面或規則截面）；

（8）    國內我們的儀器同時具有不同探頭技術；

（9）    國內我們的儀器為適應測量溫度變化設置了不同的測量檔位，例如鋅、鉻、錫等。

（10）國內我們的測量軟件包括鎳封厚度及電位差測量。

產品包裝：紙箱

產品用途：導電鍍層厚度測量及性能評價

售后服務：質保一年