FT150(FT150/FT150h/FT150L)日本日立X射線熒光鍍層厚度測量儀
日立(主營EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L),FT110A系列產品,搭載了性能X射線管,實現了高的測定。FT110A微小準直管和可變焦距光學系統的組合,實現了對微小部分的測定。對有段差的樣品也適用。
1. 測量:通過X射線檢測機的改良,對于具代表性的Au/Pd/Ni/Cu(金/鈀/鎳/銅)多鍍層測量,相比以前機型,效率了2。
2. 對應小型的芯片部件的厚度測量(FT150h:FT150h通過新開發的聚光導管,可以測量小型芯片部件(電容、電阻等)的電部的鍍層厚度測量。
3. 兼顧性和簡便性:采用X射線泄露的密集型框架和大開口且可以方便開啟和關閉的樣品門,兼顧性和簡便性。「FT150L」可以對應600×600mm的大型線路板。
X射線熒光鍍層厚度儀「FT150系列」(FT150/FT150h/FT150L)是采用聚光X射線的聚光導管,可對微小部的鍍層厚度進行測量的儀器。通過X射線檢測儀器的改良,在線路板和連接器等使用的Au/Pd/Ni/Cu(金/鈀/鎳/銅)多鍍層檢測中,其測量速度與本公司以往機型(FT9500X,以下相同)相比,了2。在「FT150h」里通過新開發的聚光導管也可以測量小型芯片部件的端子鍍層厚度。而且跟以往機型相同,為操作員的和安心考慮,采用X射線泄露的可能性小的密集型框架。新設計的樣品室門采用大開口,同時了開啟和關閉的便捷性。并且通過大型觀察窗口,可以方便地取放和定位樣品。另外,操作軟件通過圖標和便捷畫面在了操作性的同時,可通過數據自動保存功能減輕操作員的業務。通過這些改進,「FT150系列」實現了高?的鍍層厚度測量,為測量工作的效率化和成本削減做出了貢獻。








