- 品牌/商標：廣州標旗電子科技有限公司
- 原產地：廣州
TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
TMS透過率測試儀-技術參數
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型號 |
TMS（I型） |
TMS（II型） |
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探測器 |
Sony線形CCD 陣列 |
Hamamatsu背照式2D-CCD |
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檢測范圍 |
380-1000nm |
360-1100nm |
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波長分辨率 |
1nm |
1nm |
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信噪比（全信號） |
250：1 |
1000：1 |
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相對檢測誤差 |
﹤0.5%（400-800nm） |
﹤0.2%（400-800nm） |
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單次測量時間 |
﹤1s |
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樣品尺寸 |
≥ Φ3mm |
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操作系統/接口 |
Windows XP,
Windows Vista/ USB2.0 |
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電源/功率 |
220V-50HZ /6W |
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TMS透過率測試儀-獨特的軟件設計
l 智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據，自動調整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
l 譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，程度地方便了譜圖的管理和分析。
l 自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。
l 譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫，可根據數據庫已存標準數據對比分析結果，用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
l CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
