◆ 產品簡介                                                                        

     JXZ—2型正置金相顯微鏡可用在觀 察或研究分析不方便倒置的金屬、硅片等反射標本、試樣的表面結構，適用于廠礦企業、學校及科研機構等部門進行金屬材料質量檢驗，金屬件處理后做金相組織分析。近年來逐漸廣泛地應用于電子工業作晶體、芯片及新材料等方面的質量檢驗及其他反射標本表面微細結構的觀察。

  
             鉸鏈式                                      推拉式

◆主要技術參數：                                                                 

1、三目鏡筒：瞳距50～75mm，視度調節&plun;5°；        

（1）鉸鏈式JXZ—2J型

（2）推拉式JXZ—2T型

2、無限遠長工作距離平場半復消色差物鏡：                        

（1）5×/0.13，W.D = 33.26mm；

（2）10×/0.25，W.D = 5.30mm；

（3）20×/0.40，W.D = 3.83mm；

（4）50×/0.80，W.D = 0.48mm（可調齊焦距，彈簧鏡頭）；

（5）80×/0.90，W.D = 0.87mm（可調齊焦距，彈簧鏡頭）

3、平場目鏡：10×/18mm，16×/11mm；

4、總放大倍率：目視50×～1280×；

5、載物臺：130mm×160mm；移動范圍：縱向50mm，橫向75mm。

6、照明：

（1）數字化調光，0～99級數顯，有記憶功能；

（2）落射光柯勒照明：12V30W；

（3）光照明：12V20W。

7、0.5×CCD圖像光學接口。

產品主要特點：

1、采用無限遠像距色差校正光學系統，配長工作距離平場半復消色差物鏡5×、10×、20×、50×、80×。成像清晰、分辨率高、視野平坦。

2、采用大數值孔徑NA=0.51的柯勒落射照明系統。消雜好，襯度高。

3、采用單片CPU實現數字化調光：0～99級數顯，有記憶功能。