| 類型 | 電子顯微鏡 | 品牌 | JEOL(日本電子) |
| 型號 | JSM-6510A/ JSM-6510LA | 儀器放大倍數 | x5至x300,000 |
| 重量 | 325k(g) | 適用范圍 | 觀測元素分析 |

JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的原素分析儀(EDS),統合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制,操作員只用一只鼠標,就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
1直觀的操作接口的設計,簡明易懂便于掌握操作。
2.單個用戶可以根據常用功能設置相應的圖示,營造快捷的操作環境。
3.用戶登錄時,即可加載已注冊過的設定。
4.畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分布。
5.適合于多種測量功能。可在觀察圖像上直接進行測量。也可將測量結果貼至SEM圖像,保存在文件中。
6.3D Sight(選配件),能夠進行平面測量和高度測量,實現立體俯視圖。





