| 品牌 | 納優(yōu) | 型號 | NaU-E600 |
| 光源 | X射線 | 波長范圍 | 110—900（nm） |
| 焦距 | 750（mm） | 外形尺寸 | 730×440×330（mm） |
| 重量 | ＞30k（g） | 適用范圍 | 適用于歐盟RoHS及無鹵、美國CPISA等指令的管控，尤其是電子電氣、塑膠顏料、涂料油漆廠等用戶 |
NaU-E600能量色散型X熒光光譜儀主要特點：
全光路輻射護；全自動模塊化控制；人性化操作界面；綜合應用經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法, 可滿足RoHS/WEEE相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能，根據(jù)企業(yè)物料情況量身定做，從而得到為準確、的分析測試結果，適用于多材料的工廠制程控制。
納優(yōu)系列儀器合國際電工委員會IEC62321標準及中國標準所規(guī)定的技術要求和技術規(guī)范。
• 自選式功能組合
用戶根據(jù)自己的控制要求，可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件（二選一）
• 全自動配置
全自動化的操作模式、人性化的操作界面，測試人員通過鼠標即可完成操作(原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關、工作曲線的選擇實現(xiàn)自動化控制，程序會根據(jù)預先設定的測試條件自動進行的切換動作)；
• 照射區(qū)控制系統(tǒng)
可調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，實現(xiàn)了對測試區(qū)域的準確把握。測試數(shù)據(jù)與實際檢測區(qū)域的對應。
• 成熟、經(jīng)典的分析方法：
憑借“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應用經(jīng)驗的經(jīng)典數(shù)學分析模型，為測試者提供、精準、穩(wěn)定的分析結果。
• 強大的軟件功能
1、分析軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀、大小的不同自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅測量；
2、提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為每家用戶量身定做的有害物質(zhì)檢測和控制方案；
3、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優(yōu)化算法等；
4、國際的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，測試數(shù)據(jù)的準確性。
• 開放性工作曲線
用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，針對性的建立風險材料的工作曲線，工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度風險物質(zhì)的檢測，來料允收判定依據(jù)的性。
• 嚴謹?shù)挠布膳c結構設計
對可能影響整機度及穩(wěn)定性的器件，采用高端原廠器件。
模塊化設計與組件選擇，了整機性能的穩(wěn)定性與未來服務的操作簡便性。
設計的原級、二次濾光系統(tǒng)，既了對有害元素的激發(fā)效率，同時降低了作為干擾因素的背景強度，充分峰背比，大幅度降低檢出下限。
• 全光路射線護系統(tǒng)
X光管、探測器、復合濾光處理系統(tǒng)、CCD、定位系統(tǒng)、全自動準直器切換系統(tǒng)等光路處理器件均集成在密閉結構中。光路系統(tǒng)的穩(wěn)定性與密閉性，充分了測試。
合理的8種復合濾光片組合和自動切換系統(tǒng)，既可以降低來自原級X射線干擾的影響，被測元素的靈敏度和測試，同時還具有輻射自動護功能，保護操作者。
散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的性。全光路射線護設計，又避免了無射線區(qū)域的無謂屏蔽與保護，進一步了散熱效率。了儀器的環(huán)境適應性與穩(wěn)定性。
全光路輻射護配合經(jīng)典的迷宮式輻射護設計，同時采用軟、硬件雙重連鎖，操作人員人身。
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NaU-E600 產(chǎn)品參數(shù)(product parameter)
產(chǎn)品名稱 (product name)：Nayur X熒光無鹵分析儀 (Nayur halogen-free XRF)
型 號(te)：NaU-E600
測試對象(test object)：粉未、固體、液體(powder, solid, liquid)
測量時間(test time)：100-200s
管壓(tube voltage)：10KV-50KV
管流(tube flow)：50uA-1000uA
環(huán)境溫度(environment temperature)：15℃-30℃
環(huán)境濕度(environment humidity)：30%-80%
樣品腔面積(sample cavity dimension )：400mm×400mm×100mm
外形尺寸(instrument dimension)：730mm×440mm×330mm
重量(weight)：30Kg
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NaU-E600 產(chǎn)品配置( product configure)
高分辨率電制冷半導體探測器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)
鹵素測試配件(halogen test accessory)
光路優(yōu)化系統(tǒng)(optical optimization system )
內(nèi)置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)
自動切換準直器和濾光片collimators and filters automatic switching system
全自動定位測試系統(tǒng)(automatic positioning test system)
樣品倉自動開關裝置(fully automatic sample cavity)
三重保護模式（triple security protected mode）
