| 品牌 | PhaseView | 型號 | DWC |
| 測量范圍 | 光譜范圍:350-1100nm | 測量 | :<0.01λ |
| 用途 | 應(yīng)用方向包括激光焊接、激光聚焦和激光通訊等 |
激光光束及波前分析在制造、、軍事以及科研等領(lǐng)域扮演著重要的角色,應(yīng)用方向包括激光焊接、激光聚焦和激光通訊等。在這些應(yīng)用中,激光束型信息可以通過評估光束寬度的瞬時形貌變化以及光束中心點(diǎn)的變化獲得或生成。
對于激光束型和波前的傳統(tǒng)測量方法包括:Shack-Hartmann探測器、CCD或CMOS能量探測、掃描狹縫、針孔和刀口等。但上述方法皆受激光器工作方式(脈沖或連續(xù))、能量、波長等參數(shù)的影響和限制。比如頻率低于1kHz的脈沖激光可以通過狹縫掃描的方法測量而刀口切割的方法只能用于連續(xù)光束的測量。而在測量重要的光束傳輸參數(shù)M2時,傳統(tǒng)的方法須花費(fèi)大量的時間和精力用于沿光軸搭建和移動探測器逐點(diǎn)測量。而且這些還只是通過測量光強(qiáng)來分析光束的能量分布,對于光束重要的波前信息還需要另外使用Shack-Hartmann探測器測量。而Shack-Hartmann探測器在進(jìn)行波前測量時只能大約30 X 30的測量采集點(diǎn),測量較低。綜上所述,通過傳統(tǒng)方法對激光光束進(jìn)行光強(qiáng)和波前的分析時,需要一系列的儀器進(jìn)行大量測量。
相比傳統(tǒng)的激光光束測量儀器,基于DWC技術(shù)的GetLase激光光束測量儀具有如下特點(diǎn):
- 可同時進(jìn)行光強(qiáng)和波前測量
- 測量M2時無需移動任何組件
- 波前測量采集點(diǎn)達(dá)500 X 500以上
- 可進(jìn)行激光光束的傳輸分析:任意焦面的能量分布
- 可進(jìn)行包括PSF、MTF等重要參數(shù)的測量
- 可同時應(yīng)用于脈沖(Pulsed)和連續(xù)(CW)激光器
- 可應(yīng)用于UV、VIS、NIR和LWIR各波段
- 對于激光光束的實(shí)時監(jiān)控,可實(shí)時顯示光強(qiáng)、波前、PSF

Laser Beam & Wavefront Profiling●Beam Propagation Analysis●Beam Shaping & Beam Monitoring
激光光束&波前分析●光束傳輸分析●光束束型&光束監(jiān)測
DWC&GetLase激光光束及波前分析儀
1.Laser Beam & Wavefront Profiling光束波前分析
基于至少500 X 500分辨率的測量采集點(diǎn),高動態(tài)范圍(&plun;1500λ@633nm),以及實(shí)時的波前分析能力(25Hz視頻采集率),DWC&GetLase是理想的光束分析儀器。分析軟件可實(shí)時輸出波前的3D繪圖、梯度以及條紋度等。光束空間特性可溯源至ISO 13694標(biāo)準(zhǔn),M2可溯源至ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)。光束直徑測量2%,M2測量4%。

2.Beam Propagation Analysis光束傳輸分析
在光束傳輸方向的多個位置多光束傳輸進(jìn)行詳細(xì)測量和分析。無需移動位置,光束能量的相關(guān)特性可由系列虛擬位置面計(jì)算得出。可實(shí)時監(jiān)控光束質(zhì)量。

3. Beam Shaping & Beam Monitoring光束修整和監(jiān)控
可進(jìn)行光束監(jiān)控&束型修整——同時包括光強(qiáng)和相位兩方面——通過與相位空間光路模塊(SLM’s),變形鏡(DM’s)或者其他光束修整和成型設(shè)備配合使用。

儀器技術(shù)指標(biāo):
入瞳:5.9 X 3.1mm Z向分離:17.5mm
測量采集點(diǎn):500 X 500
:<0.01λ
靈敏度:<0.005λ
重復(fù)性:<0.01λrms
動態(tài)范圍:500λ 采集率:15Hz
M2:&plun;4% M2重復(fù)性:<2%
光譜范圍:350-1100nm使用Silicon CCD

<350&>1100nm使用其他探測器
附件:提供相關(guān)及定制規(guī)格的衰減器、中繼鏡、物鏡以及聚焦透鏡等。





