| 品牌 | K-MAC | 型號 | ST2000-ST8000 |
| 產品用途 | 薄膜厚度測量 |
本產品適用于半導體領域內，測量薄膜厚度的光學分析儀器。我公司的ST產品的測量時間非常短暫，測量方法是屬于非接觸非破壞方法，使用顯微鏡可以測量很小區域內的再現性和準確性，現在，我們公司的薄膜測厚儀是遠遠于使用其它方法的其它產品。
【】厚度測量領域內的分解能力屬于世界初微小領域測量
【】可以專用于測量微小領域的厚度分布
【】可以測量Wafer上的多層薄膜厚度與光學常數-折射率與吸收率
【】可以實時的測量厚度變化量與具有角度顯示，打印，保存功能
【】可以快速的在1秒之內接受data并且修復data
