適用范圍：
KURABO RX-400紅外膜厚儀適合測量無機/有機透明或半透明薄膜厚度，尤其適用于硅鋼表面絕緣涂層厚度的在線測量。
KURABO RX-400紅外膜厚儀主要特點：
(1)與X射線比較設備價格低；
(2)適于在線測量，可以距離鋼板等40mm檢測；
(3)高 可以檢測原來的紅外線膜厚度計無法測量的無機涂膜厚度及超薄涂層的厚度。
KURABO RX-400紅外膜厚儀技術參數：
測光方式：紅外反射吸收方式
分光方式：旋轉濾波方式(6個濾波片)
測量距離：40mm(從本體部下面)
測量面積：20*30mm(橢圓)
外形尺寸及重量：
檢測器 尺寸：410(W)*207(D)*160(H) (不含突起部分)
重量：8.5Kg
中繼連接器 尺寸：322(W)*113(D)*140(H) (不含突起部分)
重量：4Kg
電源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
數據處理部 尺寸：300(W)*275(D)*165(H) (不含突起部分)
重量：6Kg
電源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
工藝布置圖：
