XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關法全場應變測量分析系統(tǒng)------微米和納米級顯微三維測量技術  近年來三維數(shù)字圖像相關法DIC（digital image correlation）以其高、魯棒性、方便性，廣泛應用到眾多學科的材料力學性能測試分析。西安交通大學在“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應變測量分析系統(tǒng)”基礎上，發(fā)展出四種顯微數(shù)字圖形相關法全場應變測量分析系統(tǒng)1. 基于單光路光學顯微鏡的二維全場應變測量2. 基于體式顯微鏡的三維全場應變測量3. 基于電子顯微鏡的二維全場應變測量4. 基于電子顯微鏡的三維全場應變測量一、基于單光路光學顯微鏡的二維全場應變測量普通光學顯微鏡多為單個光路，特點是價格便宜、放大倍數(shù)大，使用簡單方便，是目前用量的顯微鏡。普通光學顯微鏡應用在全場應變，只能用于二維應變測量（也稱為片內(nèi)測量），較難用于三維全場應變測量。各種光學顯微鏡與“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應變測量分析系統(tǒng)”配合使用，可以快速方便地實現(xiàn)二維全場應變測量分析二、基于體式顯微鏡的三維全場應變測量基于體式顯微鏡的三維全場應變測量采用CMO型體視顯微鏡（Common Main Objective ，CMO），配合“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應變測量分析系統(tǒng)”進行三維全場應變測量分析。CMO型體視顯微鏡（Common Main Objective ，CMO）光路體式顯微鏡（Stereo Light Microscope，SLM）具有兩個光路，分為兩種類型：Greenough型體視顯微鏡(G-SLM)和CMO型體視顯微鏡(CMO-SLM)。G-SLM結(jié)構簡單，加工相對容易，價格也便宜，可批量生產(chǎn)，適用于工業(yè)流水線，但是G-SLM的像面與聚焦面不平行，容易產(chǎn)生徑向的圖像失真，用于高的精密測量略顯不足。CMO-SLM的像面和聚焦面平行，適于實驗室等高精密環(huán)境中，但CMO-SLM價格偏高，加工過程復雜。Greenough型和CMO型體式光學顯微鏡的結(jié)構對比圖CMO型體式光學顯微鏡的光路結(jié)構圖三、基于電子顯微鏡的二維全場應變測量“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應變測量分析系統(tǒng)”配合各種掃描電子顯微鏡  (Scanning Electron Microscope，SEM) 和原子力電子顯微鏡（atomic force microscopy，AFM），可以快速方便實現(xiàn)二維全場應變測量。掃描電子顯微鏡結(jié)構 電子顯微鏡二維全場應變四、基于電子顯微鏡的三維全場應變測量與各種掃描電子顯微鏡  (Scanning Electron Microscope，SEM) 和原子力電子顯微鏡（atomic force microscopy，AFM）配合，也可實現(xiàn)三維全場應變測量，需要進行多角度測量，利用工業(yè)攝影測量三維重建的原理，配合“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應變測量分析系統(tǒng)”實現(xiàn)三維全場應變測量。五、顯微鏡的三維標定技術要實現(xiàn)顯微三維測量，首先要解決顯微鏡的三維標定技術。   在“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應變測量分析系統(tǒng)”的基礎上，研制了各種顯微鏡的微小視場三維標定方法各種顯微三維標定顯微應變測量使用的微小拉力試驗機隨著科學技術的不斷發(fā)展，微納技術己經(jīng)成為當今科技發(fā)展的前沿科學之一。顯微鏡是顯微視覺系統(tǒng)的標志性設備，顯微鏡技術的發(fā)展推動和加快了顯微視覺系統(tǒng)的發(fā)展及應用，尤其是現(xiàn)代顯微鏡具有高倍率、高分辨率和高清晰度等卓越性能，可以提供高質(zhì)量的圖像，極大地提高了顯微視覺系統(tǒng)的分辨能力。顯微視覺的發(fā)展帶動了相關理論與技術的進步，為了適應和進一步促進顯微視覺的發(fā)展，圖像分析、圖像處理與測量技術等均在不斷地發(fā)展并涌現(xiàn)了大量新方法。顯微視覺中的顯微立體視覺能夠?qū)崿F(xiàn)立體成像功能，近年來越來越受到重視，在微操作、微裝配、微注射、微測量等領域得到了廣泛的應用。顯微立體視覺系統(tǒng)不同于宏觀立體視覺系統(tǒng)的顯著特點就是在成像過程中加入了放大環(huán)節(jié)，因此，顯微鏡是實現(xiàn)顯微立體視覺系統(tǒng)不可或缺的組成部分。掃描電子顯微鏡  (Scanning Electron Microscope，SEM) 具有放大倍率高、焦深大、分辨率高等特點，是這一領域應用較多的一種顯微鏡，但其不足之處是操作復雜且設備昂貴。相對于掃描電子顯微鏡，體視顯微鏡 (Stereo Light Microscope，SLM)在這方面的應用相對少些。SLM具有工作空間大、工作距離大、便于微觀對象的操作、非接觸式觀測、對微觀對象無損傷和實時性好等優(yōu)點，它的應用日益廣泛。    西安交通大學 機械工程學院 模具與先進成形技術研究所 信息機電研究所地址：陜西省西安市咸寧西路28號 西安交通大學機械工程學院 郵編：710049電話：（技術支持），、轉(zhuǎn)807電子郵件:   網(wǎng)站：www.xjtuom.com傳真： 轉(zhuǎn)763026#以上是XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關法全場應變測量分析系統(tǒng)的詳細信息，如果您對XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關法全場應變測量分析系統(tǒng)的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關法全場應變測量分析系統(tǒng)的新信息。