不損傷黃金檢測儀 EXF7200--是集西凡儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。  EXF7200--貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，（項目聯系人金先生 ）以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，加上全軟件控制的自動調整移動平臺和切換準直器的裝置，使儀器操作更人性化、更方便。應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。   激發源：    Mo靶的X光管 風冷 (無輻射）測量點尺寸：1～2mm樣品室:     長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統軟件：     菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算計算機：   選擇配置檢測器：   固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路 其它規格：    電壓:         100～127或200～240V,50/60 Hz    功率:     120W    處尺寸:   500mm*500mm*400mm     重量:         48kg 技術指標    分析范圍：   1%～99.99%    測量時間：   自適應    測量：   ± 0.1%    測試環境：   常溫常態    分析元素：   Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W    X射線源：   X射線光管    高壓器：     4～50Kv    分析：       多通道模擬    操作系統:     Windows2000/Me/XP 以上是不損傷黃金檢測儀的詳細信息，如果您對不損傷黃金檢測儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取不損傷黃金檢測儀的新信息。