DM2500M顯微鏡是德國徠卡(Leica)公司2005年推出的新產品, 光學設計上采用先進的
HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，徹底消除雜散光等干擾因素；
在整個光學系統內, 對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、
目鏡、照相接口等) 進行優化組合，實現圖像分辨率和反差的優化，
得到銳利圖像的同時追求分辨率。
DM2500M能對芯片制造過程中各種缺陷做出清晰的觀察.特別適合失效分析實驗室芯片開模后的分析.
DM2500M的微分干涉附件,能非常清晰地檢查LCD行業的COG,COF工藝中導電粒子的情況.
DM2500M能對PCB的銅箔短路,斷路,鍍層的粗糙度,隔離油(比如綠油,黑油等)分布情況,孔的電鍍情況做細微的觀察.
DM2500M能對清晰地觀察太陽能電池片的制絨情況,配合專用軟件,能給出絨面的三維形貌,并可用于高度,寬度的測量.
DM2500M同樣勝任鋼鐵,金屬, 化工材料行業的科研, 質檢, 質控工
HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，徹底消除雜散光等干擾因素；
在整個光學系統內, 對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、
目鏡、照相接口等) 進行優化組合，實現圖像分辨率和反差的優化，
得到銳利圖像的同時追求分辨率。
DM2500M能對芯片制造過程中各種缺陷做出清晰的觀察.特別適合失效分析實驗室芯片開模后的分析.
DM2500M的微分干涉附件,能非常清晰地檢查LCD行業的COG,COF工藝中導電粒子的情況.
DM2500M能對PCB的銅箔短路,斷路,鍍層的粗糙度,隔離油(比如綠油,黑油等)分布情況,孔的電鍍情況做細微的觀察.
DM2500M能對清晰地觀察太陽能電池片的制絨情況,配合專用軟件,能給出絨面的三維形貌,并可用于高度,寬度的測量.
DM2500M同樣勝任鋼鐵,金屬, 化工材料行業的科研, 質檢, 質控工
