- 產(chǎn)品品牌：
- Xenemetrix
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- X-7600 SDD LE
擁有技術(shù)的廣角幾何（WAG）,400W X光管，60 kV發(fā)生器，8個(gè)二次靶，8款濾光片，高分辨率硅漂移探測(cè)器完全滿(mǎn)足輕元素檢測(cè)的要求。X-7600SDD LE的問(wèn)世使得元素周期表中所有元素的檢測(cè)都能得到結(jié)果。
X-7600SDD LE 在帶有二次靶技術(shù)的能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀領(lǐng)域中，引進(jìn)技術(shù)，重新定義了“先進(jìn)”的概念。 它為分析調(diào)查和開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供了高性能的解決方案，同時(shí)，為商業(yè)實(shí)驗(yàn)室分析提供了一種低成本、高效益的選擇。
以高、sub-ppm檢測(cè)為特色，在環(huán)保、地質(zhì)和貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域中，不管是輕元素還是重元素分析，X-7600SDD LE與其他分析儀器相比都具有更加卓越的檢測(cè)性能。這是研究與開(kāi)發(fā)領(lǐng)域中理想的系統(tǒng)。
X-7600SDD LE 提高了輕元素檢測(cè)的，例如：F、Ne、Na
X-7600SDD LE，使用先進(jìn)的SDD探測(cè)器，具有低電子噪音和高計(jì)數(shù)率的特點(diǎn)，與 Si-Li 探測(cè)器（液氮冷卻）相比具有更高的分辨率，能更快的得到檢測(cè)結(jié)果。
8個(gè)二次靶為快速的定量分析提供了的靈敏度，即使是是在一些復(fù)雜的基質(zhì)中，例如：合金、塑料和地質(zhì)樣品。可定制的靶為了達(dá)到ppb級(jí)的檢測(cè)極限。
X-7600 LE 能檢測(cè)液體、固體、漿狀、粉末狀，片狀樣品，樣品室能容納不同形狀和尺寸的樣品。
F(9) - U(92) ——使用極薄的高分子聚合物探測(cè)窗
ppb - 100%
Rh – 陽(yáng)極標(biāo)準(zhǔn) (mo, W, ag, cr 可選).
60kV, 400W. 10-5000µa (in 1µa increments).
直接激發(fā)或二次靶激發(fā)
室溫條件下到0.1%
高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD），極薄的高分子聚合物探測(cè)窗，熱電冷卻，避免使用液氮冷卻
能在1.6us的峰優(yōu)化操作時(shí)間內(nèi)達(dá)到123ev的分辨率，出色的結(jié)果可以通過(guò)大范圍的輸入計(jì)數(shù)率
傳送，在更短的峰操作時(shí)間內(nèi)，高計(jì)數(shù)率能被處理。
10 個(gè)位置 (18 個(gè)位置可選).
空氣/真空/ 氦氣.
8款軟件可選.
8款軟件可選: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.
多信道分析
廣角幾何（WAG）
未包裝 85 x 85 x 105, 含包裝 145 x 95 x 135.
150kg (凈重), 200kg (總重).
直徑28cm, H=5cm.
集成計(jì)算機(jī)
nEXt， 運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級(jí)基本參數(shù)算法。
樣品激發(fā)，探測(cè)，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制。
逃逸峰及背底的自動(dòng)去除，自動(dòng)重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計(jì)。
考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）。總計(jì)數(shù)，凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
用戶(hù)可自定的數(shù)據(jù)報(bào)表及打印形式
１８樣品的旋轉(zhuǎn)式自動(dòng)給樣系統(tǒng)，樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)制，的基本參數(shù)算法。 X-7600SDD LE，使用先進(jìn)的SDD探測(cè)器，具有低電子噪音和高計(jì)數(shù)率的特點(diǎn)，與 Si-Li 探測(cè)器（液氮冷卻）相比具有更高的分辨率，能更快的得到檢測(cè)結(jié)果。
