產(chǎn)品名稱： 精密LCR測(cè)試儀HP4285A 品　　牌： HP 產(chǎn)品型號(hào)： 4285A 產(chǎn)品指標(biāo)： 75kHz-30MHz 產(chǎn)品信息： ·75kHz-30MHz 以100Hz步進(jìn) 0.1%的基本高速測(cè)量：30ms/測(cè)量恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平用Agilent42841A時(shí)給出10Adc 能用Agilent42851A進(jìn)行的Q測(cè)量具有列表掃描測(cè)量功能 4284A，4285A精密LCR測(cè)試儀　　Agilent4284A和4285A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它們通過提供、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合通行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)(國際電工委員會(huì)或美國軍用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))。對(duì)射頻元件的測(cè)試，4285A給出更高的測(cè)試頻率范圍，從75KHz到30MHz。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A和4285A能滿足全部LCR測(cè)量要求。技術(shù)指標(biāo)（全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料）被測(cè)參數(shù)：|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp;L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差測(cè)量電路模式：串聯(lián)和并聯(lián)量程轉(zhuǎn)換：自動(dòng)和手動(dòng)